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1. (WO2018060234) MICROSCOPE À PHASE QUANTITATIVE À AUTO-RÉFÉRENCEMENT UTILISANT UNE GÉOMÉTRIE DE CISAILLEMENT LATÉRAL
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N° de publication : WO/2018/060234 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/074474
Date de publication : 05.04.2018 Date de dépôt international : 27.09.2017
CIB :
G02B 21/14 (2006.01) ,G01B 9/02 (2006.01) ,G01B 9/04 (2006.01) ,G03H 1/04 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
06
Moyens pour éclairer un échantillon
08
Condensateurs
14
donnant un éclairage pour une observation en contraste de phase
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9
Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
02
Interféromètres
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9
Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
04
Microscopes de mesure
G PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
H
PROCÉDÉS OU APPAREILS HOLOGRAPHIQUES
1
Procédés ou appareils holographiques utilisant la lumière, les infrarouges ou les ultraviolets pour obtenir des hologrammes ou pour en obtenir une image; Leurs détails spécifiques
04
Procédés ou appareils pour produire des hologrammes
Déposants :
SIEMENS HEALTHCARE GMBH [DE/DE]; Henkestr. 127 91052 Erlangen, DE
Inventeurs :
ANAND, Arun; IN
DUBEY, Satish Kumar; IN
Mandataire :
BALS & VOGEL PATENTANWÄLTE; Sendlinger Str. 42A 80331 München, DE
Données relatives à la priorité :
20163103310028.09.2016IN
Titre (EN) SELF REFERENCING QUANTITATIVE PHASE MICROSCOPE USING LATERAL SHEARING GEOMETRY
(FR) MICROSCOPE À PHASE QUANTITATIVE À AUTO-RÉFÉRENCEMENT UTILISANT UNE GÉOMÉTRIE DE CISAILLEMENT LATÉRAL
Abrégé :
(EN) A method and setup for phase contrast microscopy is disclosed in the present invention. The improved phase contrast microscopy setup comprises a glass plate (110) for generating two reflected beams (114A,114B,116A,116B) from one sample beam, lenses (202,204) for producing two transformed beams (214A,214B) from the two reflected beams, a spatial filter (206) for producing a clean reference beam (216) from one of the transformed beams whilst the other transformed beam is left unmodified as the final sample beam (220), and a lens (208) for inverse Fourier transforming the reference and final sample beams and at least one sensor (112) for obtaining at least one fringe pattern distribution of the sample from the interfering beams.
(FR) La présente invention concerne un procédé et une configuration pour la microscopie à contraste de phase. La configuration améliorée de microscopie à contraste de phase comprend une plaque de verre (110) pour générer deux faisceaux réfléchis (114A,114B,116A,116B) à partir d'un faisceau d'échantillon, des lentilles (202, 204) pour produire deux faisceaux transformés (214A,214B) à partir des deux faisceaux réfléchis, un filtre spatial (206) pour produire un faisceau de référence net (216) à partir de l'un des faisceaux transformés tandis que l'autre faisceau transformé reste inchangé en tant que faisceau d'échantillon final (220), et une lentille (208) pour une transformée de Fourier inverse des faisceaux d'échantillon de référence et finaux et au moins un capteur (112) pour obtenir au moins une distribution de motif de frange de l'échantillon à partir des faisceaux d'interférence.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)