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1. (WO2018042580) PROCÉDÉ DE MESURE D'IMAGE, PROGRAMME DE MESURE D'IMAGE, DISPOSITIF DE MESURE D'IMAGE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'OBJET
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N° de publication :    WO/2018/042580    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/075580
Date de publication : 08.03.2018 Date de dépôt international : 31.08.2016
CIB :
G01B 11/00 (2006.01)
Déposants : NIKON CORPORATION [JP/JP]; 15-3, Konan 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1086290 (JP)
Inventeurs : KUBOTA, Junichi; (JP)
Mandataire : KATAYAMA, Shuhei; (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) IMAGE MEASUREMENT METHOD, IMAGE MEASUREMENT PROGRAM, IMAGE MEASUREMENT DEVICE, AND ARTICLE PRODUCTION METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE D'IMAGE, PROGRAMME DE MESURE D'IMAGE, DISPOSITIF DE MESURE D'IMAGE ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'OBJET
(JA) 画像測定方法、画像測定プログラム及び画像測定装置、並びに物品の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)To provide an image measurement method that makes simple image measurement possible, an image measurement method is made to include the selection of an image from among images of different parts of a first article on the basis of characteristics of the images, alignment of a second article on the basis of the selected image and an image of a part of the second article corresponding to the selected image, and image measurement of the second article.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure d'image qui rend possible une mesure d'image simple. Un procédé de mesure d'image est conçu pour comprendre la sélection d'une image parmi des images de différentes parties d'un premier objet sur la base des caractéristiques des images, l'alignement d'un second objet sur la base de l'image sélectionnée et d'une image d'une partie du second objet correspondant à l'image sélectionnée et la mesure de l'image du second objet.
(JA)簡単に画像測定することが可能な画像測定方法を提供するため、第1の物品における異なる部分の画像の中から、該画像に関する特徴に基づいて、画像を選択することと、前記選択された画像と、第2の物品における前記選択された画像に対応する部分の画像とに基づいて、前記第2の物品に関する位置合わせを行うことと、前記第2の物品を画像測定することを含んでいる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)