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1. (WO2018037902) IMAGEUR À SEMI-CONDUCTEURS, PROCÉDÉ DE PILOTAGE ASSOCIÉ ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE
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N° de publication :    WO/2018/037902    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/028674
Date de publication : 01.03.2018 Date de dépôt international : 08.08.2017
CIB :
H04N 5/378 (2011.01), H04N 5/3745 (2011.01)
Déposants : SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP/JP]; 4-14-1, Asahi-cho, Atsugi-shi, Kanagawa 2430014 (JP)
Inventeurs : TAURA Tadayuki; (JP)
Mandataire : NISHIKAWA Takashi; (JP).
INAMOTO Yoshio; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-161893 22.08.2016 JP
Titre (EN) SOLID-STATE IMAGING DEVICE, DRIVING METHOD THEREFOR, AND ELECTRONIC APPARATUS
(FR) IMAGEUR À SEMI-CONDUCTEURS, PROCÉDÉ DE PILOTAGE ASSOCIÉ ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE
(JA) 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器
Abrégé : front page image
(EN)The present disclosure pertains to: a solid-state imaging device that enables high-speed operation by improving the determination speed of a comparator; a driving method therefor; and an electronic apparatus. According to the present disclosure, a differential input circuit operates at a first power supply voltage, and outputs a signal when the voltage of a pixel signal is higher than the voltage of a reference signal. A voltage conversion circuit converts the output signal from the differential input circuit into a signal corresponding to a second power supply voltage. A positive feedback circuit increases the transition speed on the basis of the output signal from the differential input circuit converted by the voltage conversion circuit, when a comparison result signal indicating the result of comparison between the voltage of the pixel signal and the voltage of the reference signal is inverted. Each of a plurality of time code transfer units has a shift register and transfers a time code. The present disclosure can be applied to, for example, a solid-state imaging device in which an AD converter is disposed within each pixel.
(FR)La présente invention concerne un imageur à semi-conducteurs qui permet un fonctionnement à grande vitesse en améliorant la vitesse de détermination d'un comparateur, ainsi qu'un procédé de commande associé et un appareil électronique. Selon la présente invention, un circuit d'entrée différentiel fonctionne à une première tension d'alimentation électrique et délivre un signal lorsque la tension d'un signal de pixel est supérieure à la tension d'un signal de référence. Un circuit de conversion de tension convertit le signal de sortie du circuit d'entrée différentiel en un signal correspondant à une seconde tension d'alimentation électrique. Un circuit de rétroaction positive augmente la vitesse de transition sur la base du signal de sortie provenant du circuit d'entrée différentiel converti par le circuit de conversion de tension, lorsqu'un signal de résultat de comparaison indiquant le résultat de la comparaison entre la tension du signal de pixel et la tension du signal de référence est inversé. Chacune d'une pluralité d'unités de transfert de code temporel a un registre à décalage et transfère un code temporel. La présente invention peut être appliquée, par exemple, à un imageur à semi-conducteurs dans lequel un convertisseur analogique-numérique est disposé à l'intérieur de chaque pixel.
(JA)本開示は、比較器の判定速度を向上させ、高速に動作させることができるようにする固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器に関する。 差動入力回路は、第1の電源電圧で動作し、画素信号の電圧が参照信号の電圧よりも高いときに信号を出力する。電圧変換回路は、差動入力回路の出力信号を、第2の電源電圧に対応する信号に変換する。正帰還回路は、電圧変換回路により変換された差動入力回路の出力信号に基づいて、画素信号と参照信号の電圧の比較結果を表す比較結果信号が反転するときの遷移速度を高速化する。複数の時刻コード転送部それぞれは、シフトレジスタを有し、時刻コードを転送する。本開示は、例えば、画素内にAD変換器を配置した固体撮像装置等に適用できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)