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1. (WO2017174683) PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT SUR UNE SURFACE PAR ÉCLAIRAGE MULTIDIRECTIONNEL ET DISPOSITIF ASSOCIÉ
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N° de publication : WO/2017/174683 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/058162
Date de publication : 12.10.2017 Date de dépôt international : 05.04.2017
CIB :
G01N 21/88 (2006.01) ,G01N 21/47 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47
Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
Déposants :
FRAMATOME [FR/FR]; 1 Place Jean Millier Tour Areva 92400 Courbevoie, FR
Inventeurs :
TAGLIONE, Matthieu; FR
SKOPINSKI, Clément; FR
CAPUT, Gautier; FR
Mandataire :
BLOT, Philippe; FR
HABASQUE, Etienne; FR
DOMENEGO, Bertrand; FR
COLOMBIE, Damien; FR
HOLTZ, Béatrice; FR
NEYRET, Daniel; FR
Données relatives à la priorité :
165298005.04.2016FR
Titre (EN) METHOD FOR DETECTING A DEFECT ON A SURFACE BY MULTIDIRECTIONAL LIGHTING AND ASSOCIATED DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DÉFAUT SUR UNE SURFACE PAR ÉCLAIRAGE MULTIDIRECTIONNEL ET DISPOSITIF ASSOCIÉ
Abrégé :
(EN) The method for detecting a defect on a surface (12) comprises the following steps: - acquiring a plurality of images of the surface (12) by an optical device (14) having an optical axis, each image being acquired with a lighting of the surface in a lighting direction (E, E') given for each point on the surface (12) with an optical direction (O), the images being acquired with different lighting directions (E, E') or different combinations and/or with different optical directions (O); - for each point, calculating a plurality of parameters, the parameters comprising the coefficients of an equation characterising the response of said point on the surface as a function of the lighting direction (E, E') and of an observation direction (B, B'); - deducing the parameters if the surface (12) exhibits a defect at said point.
(FR) Le procédé de détection d'un défaut sur une surface (12) comprend les étapes suivantes : - acquisition d'une pluralité d'images de la surface (12) par un dispositif optique (14) ayant un axe optique, chaque image étant acquise avec un éclairage de la surface selon une direction d'éclairage (E, E') donnée pour chaque point de la surface (12) avec une direction optique (O), les images étant acquises avec différentes directions d'éclairage (E, E') ou différentes combinaisons et/ou avec différentes directions optiques (O); - pour chaque point, calcul d'une pluralité de paramètres, les paramètres comprenant des coefficients d'une équation caractérisant la réponse dudit point de la surface en fonction de la direction d'éclairage (E, E') et d'une direction d'observation (B, B'); - déduction des paramètres si la surface (12) présente un défaut audit point.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)