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1. (WO2017171464) ANALYSEUR D'ULTRAVIOLETS INTÉGRÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication :    WO/2017/171464    N° de la demande internationale :    PCT/KR2017/003546
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 31.03.2017
CIB :
H01L 31/109 (2006.01), H01L 31/09 (2006.01)
Déposants : SEOUL VIOSYS CO., LTD. [KR/KR]; 65-16, Sandan-ro 163beon-gil, Danwon-gu, Ansan-si, Gyeonggi-do 15429 (KR).
SENSOR ELECTRONIC TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 110 Atlas Ct. Columbia, South Carolina 29209 (US)
Inventeurs : SIMIN, Grigory; (US).
SHUR, Michael; (US).
DOBRINSKY, Alexander; (US)
Mandataire : AIP PATENT & LAW FIRM; 30-1, Teheran-ro 14-gil, Gangnam-gu Seoul 06239 (KR)
Données relatives à la priorité :
62/316,535 31.03.2016 US
15/472,198 28.03.2017 US
Titre (EN) INTEGRATED ULTRAVIOLET ANALYZER
(FR) ANALYSEUR D'ULTRAVIOLETS INTÉGRÉ
Abrégé : front page image
(EN)An integrated ultraviolet analyzer is described. The integrated ultraviolet analyzer can include one or more ultraviolet analyzer cells, each of which includes one or more ultraviolet photodetectors and one or more solid state light sources, which are monolithically integrated. The solid state light source can be operated to emit ultraviolet light, at least some of which passes through an analyzer active gap and irradiates a light sensing surface of the ultraviolet photodetector. A medium to be evaluated can be present in the analyzer active gap and affect the ultraviolet light as it passes there through, thereby altering an effect of the ultraviolet light on a ultraviolet photodetector.
(FR)L'invention concerne un analyseur d'ultraviolets intégré. L'analyseur d'ultraviolets intégré peut comprendre une ou plusieurs cellules d'analyseur d'ultraviolets, dont chacune comprend un ou plusieurs photodétecteurs ultraviolets et une ou plusieurs sources de lumière à semi-conducteurs, qui sont intégrées de façon monolithique. La source de lumière à semi-conducteurs peut être utilisée pour émettre une lumière ultraviolette, dont au moins une partie passe à travers un espace actif d'analyseur et irradie une surface de détection de lumière du photodétecteur ultraviolet. Un milieu à évaluer peut être présent dans l'espace actif d'analyseur et affecter la lumière ultraviolette lorsqu'elle passe à travers celui-ci, modifiant ainsi un effet de la lumière ultraviolette sur un photodétecteur ultraviolet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)