Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2017169101) GUIDE DE LUMIÈRE, DÉTECTEUR COMPORTANT LE GUIDE DE LUMIÈRE, ET DISPOSITIF À FAISCEAU DE PARTICULES CHARGÉES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2017/169101 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/003884
Date de publication : 05.10.2017 Date de dépôt international : 03.02.2017
CIB :
H01J 37/244 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37
Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
02
Détails
244
Détecteurs; Composants ou circuits associés
Déposants :
株式会社 日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventeurs :
關口 好文 SEKIGUCHI Yoshifumi; JP
今村 伸 IMAMURA Shin; JP
川野 源 KAWANO Hajime; JP
ホック シャヘドゥル HOQUE Shahedul; JP
Mandataire :
戸田 裕二 TODA Yuji; JP
Données relatives à la priorité :
2016-06994331.03.2016JP
Titre (EN) LIGHT GUIDE, DETECTOR PROVIDED WITH LIGHT GUIDE, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
(FR) GUIDE DE LUMIÈRE, DÉTECTEUR COMPORTANT LE GUIDE DE LUMIÈRE, ET DISPOSITIF À FAISCEAU DE PARTICULES CHARGÉES
(JA) ライトガイド、ライトガイドを備えた検出器、及び荷電粒子線装置
Abrégé :
(EN) The purpose of the present invention is to provide: a light guide capable of highly efficiently guiding, to a light receiving element, light generated by a scintillator; a detector; and a charged particle beam device. In order to achieve the purpose, the present invention proposes a light guide (3) that guides, to a light receiving element, light generated by a scintillator. The light guide is provided with: a first surface (3a) facing a surface (5c) of a scintillator (5), said surface (5c) being on the reverse side of a charged particle beam input surface of the scintillator; a scintillator housing unit formed of a second surface (3e1) facing a scintillator surface (5d) different from the surface on the reverse side of the charged particle beam input surface; and a tilted surface (3e2) that reflects, toward the inside of the light guide, light inputted from the second surface.
(FR) L'objet de la présente invention est de produire : un guide de lumière pouvant guider avec une efficacité élevée, vers un élément récepteur de lumière, la lumière générée par un scintillateur; un détecteur; et un dispositif à faisceau de particules chargées. Afin d'atteindre cet objectif, la présente invention propose un guide de lumière (3) qui guide, vers un élément récepteur de lumière, la lumière générée par un scintillateur. Le guide de lumière comporte : une première surface (3a) faisant face à une surface (5c) d'un scintillateur (5), ladite surface (5c) se trouvant sur le côté inverse d'une surface d'entrée du faisceau de particules chargées du scintillateur; une unité de logement de scintillateur constituée d'une deuxième surface (3e1) faisant face à une surface du scintillateur (5d) différente de la surface du côté inverse de la surface d'entrée du faisceau de particules chargées; et une surface inclinée (3e2) qui réfléchit, vers l'intérieur du guide de lumière, la lumière entrant depuis la deuxième surface.
(JA) 本発明は、シンチレータにて発生する光を高効率に受光素子に導くことが可能なライトガイド、検出器、及び荷電粒子線装置の提供を目的する。本発明では上記目的を達成するために、シンチレータより発生した光を受光素子に導くライトガイド(3)であって、シンチレータ(5)の荷電粒子入射面とは反対の面(5c)に対向する第1の面(3a)と、シンチレータの荷電粒子入射面の反対の面とは異なる面(5d)に対向する第2の面(3e1)から形成されるシンチレータ収容部と、第2の面から入射する光を、ライトガイド内部に向かって反射する傾斜面(3e2)を備えたライトガイドを提案する。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)