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1. (WO2017142061) OUTIL DE COUPE REVÊTU EN SURFACE
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N° de publication :    WO/2017/142061    N° de la demande internationale :    PCT/JP2017/005901
Date de publication : 24.08.2017 Date de dépôt international : 17.02.2017
CIB :
B23B 27/14 (2006.01), C23C 16/30 (2006.01), C23C 16/32 (2006.01), C23C 16/34 (2006.01), C23C 16/36 (2006.01), C23C 16/40 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI MATERIALS CORPORATION [JP/JP]; 3-2, Otemachi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008117 (JP)
Inventeurs : OKUDE Masaki; (JP).
NISHIDA Shin; (JP).
TATSUOKA Sho; (JP).
SATO Kenichi; (JP).
YANAGISAWA Kousuke; (JP)
Mandataire : SHIGA Masatake; (JP).
TERAMOTO Mitsuo; (JP).
MATSUNUMA Yasushi; (JP).
HOSOKAWA Fumihiro; (JP).
ONAMI Kazunori; (JP)
Données relatives à la priorité :
2016-027727 17.02.2016 JP
2017-026575 16.02.2017 JP
Titre (EN) SURFACE COATED CUTTING TOOL
(FR) OUTIL DE COUPE REVÊTU EN SURFACE
(JA) 表面被覆切削工具
Abrégé : front page image
(EN)A surface coated cutting tool with a hard coating layer formed on a tool base body surface thereof, said hard coating layer comprising at least a lower layer and an upper layer, wherein the lower layer comprises a Ti compound layer, said Ti compound layer having a total average layer thickness of 2-15μm and comprising one or more layers selected from a TiC layer, a TiN layer, a TiCN layer, a TiCO layer, and a TiCNO layer, at least one of said layer(s) being a TiCN layer, the upper layer comprises an Al2O3 layer having an average layer thickness of 1-15μm, at least one of the TiCN layer(s) making up the lower layer demonstrates a maximum diffraction peak intensity at the (200) plane during X-ray diffraction and has an orientation index Tc(200) of 2.0 or greater, and in the lower layer, crystal grains that have a columnar, vertically elongated structure with an aspect ratio of 5 or greater preferably occupy 70% or more of the area of a vertical cross-section of the lower layer.
(FR)L'invention concerne un outil de coupe revêtu en surface avec une couche de revêtement dur formée sur une surface de corps de base d'outil de celui-ci, ladite couche de revêtement dur comprenant au moins une couche inférieure et une couche supérieure, la couche inférieure comprenant une couche de composé de Ti, ladite couche de composé de Ti ayant une épaisseur de couche moyenne totale de 2 à 15 µm et comprenant une ou plusieurs couches choisies parmi une couche de TiC, une couche de TiN, une couche de TiCN, une couche de TiCO et une couche de TiCNO, au moins une desdites une ou plusieurs couches étant une couche de TiCN, la couche supérieure comprenant une couche de Al2O3 ayant une épaisseur de couche moyenne de 1 à 15 μm, au moins une de la ou des couches de TiCN constituant la couche inférieure démontrant une intensité du pic de diffraction maximale au niveau du plan (200) pendant une diffraction des rayons X et ayant un indice d'orientation Tc(200) de 2,0 ou plus et, dans la couche inférieure, les grains cristallins qui ont une structure en colonne allongée verticalement avec un rapport d'aspect de 5 ou plus occupant de préférence 70 % ou plus de la zone d'une section transversale verticale de la couche inférieure.
(JA)工具基体表面に、少なくとも下部層と上部層からなる硬質被覆層が形成されている表面被覆切削工具において、前記下部層は、TiC層、TiN層、TiCN層、TiCO層およびTiCNO層から選ばれる1層または2層以上からなり、その内の少なくとも1層はTiCN層で構成された2~15μmの合計平均層厚を有するTi化合物層からなり、前記上部層は、1~15μmの平均層厚を有するAl層からなり、前記下部層を構成するTiCN層のうちの少なくとも1層は、(200)面にX線回折による最大回折ピーク強度が現れ、かつ、配向性指数Tc(200)は2.0以上であり、好ましくは、下部層において、アスペクト比が5以上である柱状縦長組織を有する結晶粒が、下部層の縦断面に占める面積割合は70面積%以上である表面被覆切削工具。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)