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1. (WO2017033759) DISPOSITIF D'AFFICHAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2017/033759    N° de la demande internationale :    PCT/JP2016/073699
Date de publication : 02.03.2017 Date de dépôt international : 12.08.2016
CIB :
G09F 9/30 (2006.01), G02F 1/1368 (2006.01), G09F 9/00 (2006.01), G02F 1/1345 (2006.01)
Déposants : SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522 (JP)
Inventeurs : YOSHIDA Masahiro; (--).
OGASAWARA Isao; (--)
Mandataire : KAWAKAMI Keiko; (JP).
MATSUYAMA Takao; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-163656 21.08.2015 JP
Titre (EN) DISPLAY DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE
(JA) 表示装置
Abrégé : front page image
(EN)According to the present invention, short circuiting of two connection lines to which the same signal is inputted is suppressed in an active matrix substrate. The active matrix substrate is provided with: first wirings each formed in a first wiring layer; second wirings each formed in a second wiring layer; third wirings that are each formed in a third wiring layer and to which a signal different from signals supplied to the first wirings and the second wirings is supplied; first connection lines that connect the first wirings or the second wirings to a first terminal; second connection lines that connect the third wirings to a second terminal; inspection TFTs (switching elements for the second connection lines) 61 connected to the second connection lines; and two or more common wirings 63 and 64 which are each connected to one of the inspection TFTs 61. The second connection lines 24c are connected to one of the common wirings via the inspection TFTs 61. Among pairs of the second connection lines 24c that are adjacent to each other, a pair of the connection lines 24c that are connected to an identical common wiring have a smaller interval therebetween than a pair of the connection lines 24c that are connected to different common wirings.
(FR)Selon la présente invention, le court-circuitage de deux lignes de connexion dans lesquelles le même signal est entré est supprimé dans un substrat à matrice active. Le substrat à matrice active comporte : des premiers câblages formés chacun dans une couche de premiers câblages ; des deuxièmes câblages formés chacun dans une couche de deuxièmes câblages ; des troisièmes câblages qui sont formés chacun dans une couche de troisièmes câblages et auxquels un signal différent de signaux fournis aux premiers câblages et aux deuxièmes câblages est fourni ; des premières lignes de connexion qui connectent les premiers câblages ou les deuxièmes câblages à une première borne ; des secondes lignes de connexion qui connectent les troisièmes câblages à une seconde borne ; des transistors en couches minces (TFT) d’inspection (éléments de commutation pour les secondes lignes de connexion) (61) connectés aux secondes lignes de connexion ; et au moins deux câblages communs (63) et (64) qui sont connectés chacun à l’un des TFT d’inspection (61). Les secondes lignes de connexion (24c) sont connectées à l’un des câblages communs par l’intermédiaire des TFT d’inspection (61). Parmi des paires des secondes lignes de connexion (24c) qui sont adjacentes les unes aux autres, une paire des lignes de connexion (24c) qui sont connectées à un câblage commun identique ont un plus petit intervalle entre elles qu’une paire des lignes de connexion (24c) qui sont connectées à des câblages communs différents.
(JA)アクティブマトリクス基板において、同じ信号が入力される2本の接続線の短絡を抑制する。アクティブマトリクス基板は、第1配線層に形成された第1配線と、第2配線層に形成された第2配線と、第3配線層に形成され、第1配線及び第2配線に供給される信号とは異なる信号が供給される第3配線と、第1配線または第2配線と第1端子との間を接続する第1接続線と、第3配線と第2端子との間を接続する第2接続線と、第2接続線と接続された検査用TFT(第2接続線用スイッチング素子)61と、各々がいずれかの検査用TFT61と接続された2本以上の共通配線63,64と、を備える。第2接続線24cは、検査用TFT61を介していずれかの共通配線と接続されている。隣接する2本の第2接続線24cのうち、同じ共通配線に接続されている第2接続線24c間の間隔は、異なる共通配線に接続されている第2接続線24c間の間隔よりも広い。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)