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1. (WO2016190204) SYSTÈME DE DILUTION POUR ANALYSER OU UN PLASMA À COUPLAGE INDUCTIF OU UN PLASMA MICRO-ONDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2016/190204 N° de la demande internationale : PCT/JP2016/064816
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 19.05.2016
CIB :
G01N 1/10 (2006.01) ,G01N 21/73 (2006.01) ,G01N 27/62 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02
Dispositifs pour prélever des échantillons
10
à l'état liquide ou fluide
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
71
excité thermiquement
73
en utilisant des brûleurs ou torches à plasma
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62
en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
Déposants :
株式会社 イアス IAS INC. [JP/JP]; 東京都国立市富士見台4‐39‐5‐916 4-39-5-916, Fujimidai, Kunitachi-shi, Tokyo 1860003, JP
Inventeurs :
川端 克彦 KAWABATA, Katsuhiko; JP
一之瀬 達也 ICHINOSE, Tatsuya; JP
池内 満政 IKEUCHI, Mitsumasa; JP
Mandataire :
特許業務法人田中・岡崎アンドアソシエイツ TANAKA AND OKAZAKI; 東京都文京区本郷3丁目30番10号 本郷K&Kビル Hongo K&K Bldg., 30-10, Hongo 3-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1130033, JP
Données relatives à la priorité :
2015-10753027.05.2015JP
Titre (EN) DILUTION SYSTEM FOR ANALYZING INDUCTIVELY-COUPLED PLASMA OR MICROWAVE PLASMA
(FR) SYSTÈME DE DILUTION POUR ANALYSER OU UN PLASMA À COUPLAGE INDUCTIF OU UN PLASMA MICRO-ONDES
(JA) 誘導結合プラズマ又はマイクロ波プラズマ分析用の希釈システム
Abrégé :
(EN) The present invention provides a dilution system that supplies analysis samples on the line, for analyzing inductively-coupled plasma or microwave plasma, wherein the dilution system is suitable even for a case where analysis samples from a plurality of supply sources are analyzed using a single analysis device. The present invention pertains to a dilution system having: a quantification means provided with a sample quantification segment (Q) having a fixed length, and a drain channel (Ddq) for quantification; a mixing means; and an analysis means. The dilution system according to the present invention can accurately dilute even a trace amount of analysis sample. In addition, the dilution system enables, by using a single analysis device, analysis of analysis samples sampled from a plurality of sites, without causing contamination among the samples.
(FR) La présente invention concerne un système de dilution qui fournit des échantillons d'analyse en ligne, pour analyser un plasma à couplage inductif ou un plasma micro-ondes, le système de dilution étant approprié même pour un cas où des échantillons d'analyse provenant d'une pluralité de sources d'alimentation sont analysés à l'aide d'un dispositif d'analyse unique. La présente invention concerne un système de dilution comportant : un moyen de quantification comprenant un segment de quantification d'échantillon (Q) ayant une longueur fixe, et un canal de drain (Ddq) pour la quantification ; un moyen de mélange ; et un moyen d'analyse. Le système de dilution selon la présente invention peut diluer avec précision une quantité même infime d'échantillon d'analyse. De plus, le système de dilution permet, à l'aide d'un seul dispositif d'analyse, l'analyse d'échantillons d'analyse échantillonnés à partir d'une pluralité de sites, sans provoquer de contamination parmi les échantillons.
(JA) 本発明は、分析試料をオンライン供給する誘導結合プラズマ又はマイクロ波プラズマ分析用の希釈システムにおいて、複数の供給源からの分析試料を1台の分析装置で分析する場合にも好適なシステムを提供する。 本発明は、一定長さの試料定量区域(Q)及び定量用ドレイン流路(Ddq)を備えた定量手段、混合手段、及び分析手段を有する希釈システムに関する。本発明の希釈システムは、微量の分析試料も正確に希釈することができる。また、複数の現場からサンプリングした分析試料を、試料同士の汚染を生じることなく、1台の分析装置で分析することも可能になる。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)