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1. (WO2016189764) DISPOSITIF DE DÉTECTION ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/189764    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/080942
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 02.11.2015
CIB :
G01N 21/88 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP)
Inventeurs : KONDO, Junji; (JP).
TSUTADA, Hiroyuki; (JP).
IRIE, Megumi; (JP)
Mandataire : TAKAMURA, Jun; (JP)
Données relatives à la priorité :
2015-106782 26.05.2015 JP
Titre (EN) DETECTION DEVICE AND DETECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION
(JA) 検出装置および検出方法
Abrégé : front page image
(EN)The present invention obtains a detection device capable of suppressing the workload before the start of inspection while enhancing deformation detection accuracy after the start of inspection. The detection device is provided with an object characteristic storage device 2 for storing parameters indicating the characteristics of a deformed object, an object detection unit 3 for using the parameters to detect a deformed object candidate from image information, an object storage unit 4 for storing the deformed object candidate, an object display unit 5 for displaying the deformed object candidate stored in the object storage unit 4, a correction input unit 6 for receiving the input of correction information for the deformed object candidate and correcting the deformed object candidate stored in the object storage unit 4 on the basis of the correction information, and an object characteristic correction unit 7 for correcting the parameters stored in the object characteristic storage device 2 on the basis of the correction information received by the correction input unit 6.
(FR)La présente invention permet d'obtenir un dispositif de détection apte à supprimer la charge de travail avant le début de l'inspection tout en améliorant la précision de détection de déformations après le début de l'inspection. Le dispositif de détection comprend un dispositif de stockage de caractéristique d'objet (2) pour stocker des paramètres indiquant les caractéristiques d'un objet déformé, une unité de détection d'objet (3) pour utiliser les paramètres pour détecter un candidat d'objet déformé à partir d'information d'image, une unité de stockage d'objet (4) pour stocker le candidat d'objet déformé, une unité d'affichage d'objet (5) pour afficher le candidat d'objet déformé stocké dans l'unité de stockage d'objets (4), une unité d'entrée de correction (6) pour recevoir l'entrée d'informations de correction pour le candidat d'objet déformé et corriger le candidat d'objet déformé stocké dans l'unité de stockage d'objets (4) sur la base des informations de correction, et une unité de correction de caractéristique d'objet (7) pour corriger les paramètres stockés dans le dispositif de stockage de caractéristique d'objet (2) sur la base des informations de correction reçues par l'unité d'entrée de correction (6).
(JA)検査の運用開始前の作業量を抑制しつつ、運用開始後において変状の検出精度を向上可能な検出装置を得ること。変状対象の特徴を示すパラメータを記憶する対象特徴記憶装置2と、パラメータを用いて、画像情報から変状対象候補を検出する対象検出部3と、変状対象候補を記憶する対象記憶部4と、対象記憶部4に記憶されている変状対象候補を表示する対象表示部5と、変状対象候補への校正情報の入力を受け付け、校正情報に基づいて、対象記憶部4に記憶されている変状対象候補を修正する校正入力部6と、校正入力部6で受け付けられた校正情報に基づいて、対象特徴記憶装置2に記憶されているパラメータを校正する対象特徴校正部7と、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)