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1. (WO2016188795) SYSTÈME DE TRAITEMENT DE DONNÉES DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/188795    N° de la demande internationale :    PCT/EP2016/060982
Date de publication : 01.12.2016 Date de dépôt international : 17.05.2016
CIB :
G06F 19/00 (2011.01), G05B 23/00 (2006.01)
Déposants : DEUTSCHE TELEKOM AG [DE/DE]; Friedrich-Ebert-Allee 140 53113 Bonn (DE)
Inventeurs : BÖGER, Astrid; (DE)
Mandataire : PATENTSHIP PATENTANWALTSGESELLSCHAFT MBH; Elsenheimerstraße 65 80687 München (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2015 108 447.3 28.05.2015 DE
Titre (DE) MESSDATENVERARBEITUNGSSYSTEM
(EN) MEASUREMENT DATA PROCESSING SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE TRAITEMENT DE DONNÉES DE MESURE
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Messdatenverarbeitungssystem(100), umfassend: einen Messdatenserver (101) zum Bereitstellen von ersten Messdaten (102) mit einer ersten Fehlertoleranz (110) und zweiten Messdaten (104) mit einer zweiten Fehlertoleranz (112), wobei die erste Fehlertoleranz (110) kleiner ist als die zweite Fehlertoleranz (112); eine erste Messdatenerfassungseinrichtung (103) zum Erfassen der ersten Messdaten (102), wobei die erste Messdatenerfassungseinrichtung (103) für die Erfassung der ersten Messdaten (102) mit einer ersten Fehlertoleranz (110) kalibriert ist und wobei die erste Messdatenerfassungseinrichtung (103) eine erste Messdatenübertragungsschnittstelle (107) aufweist, die ausgebildet ist, die ersten Messdaten (102) und eine erste Kalibrierinformation (106) über die Kalibrierung der ersten Messdatenerfassungseinrichtung (103) an den Messdatenserver (101) zu übertragen; und eine zweite Messdatenerfassungseinrichtung (105) zum Erfassen der zweiten Messdaten (104), wobei die zweite Messdatenerfassungseinrichtung (105) für die Erfassung der zweiten Messdaten (104) mit einer zweiten Fehlertoleranz (112) kalibriert ist und wobei die zweite Messdatenerfassungseinrichtung (105) eine zweite Messdatenübertragungsschnittstelle (109) aufweist, die ausgebildet ist, die zweiten Messdaten (104) und eine zweite Kalibrierinformation (108) über die Kalibrierung der zweiten Messdatenerfassungseinrichtung (105) an den Messdatenserver (101) zu übertragen,wobei der Messdatenserver (101) eine Messdatenerfassungsschnittstelle (111) aufweist, welche ausgebildet ist, die ersten Messdaten (102) und die erste Kalibrierinformation (106) von der ersten Messdatenerfassungseinrichtung (103) zu empfangen, und die zweiten Messdaten (104) und die zweite Kalibrierinformation (108) von der zweiten Messdatenerfassungseinrichtung (105) zu empfangen, wobei der Messdatenserver(101) ferner ausgebildet ist, die ersten Messdaten (102) und die zweiten Messdaten (104) unter Hinweis auf die erste Kalibrierinformation (106) und die zweite Kalibrierinformation (108) der entsprechenden Messdatenerfassungseinrichtungen (103, 105) bereitzustellen.
(EN)The invention relates to a measurement data processing system (100) comprising: a measurement data server (101) for providing first measurement data (102) having a first error tolerance (110) and second measurement data (104) having a second error tolerance (112), wherein the first error tolerance (110) is less than the second error tolerance (112); a first measurement data capture device (103) for capturing the first measurement data (102), wherein the first measurement data capture device (103) is calibrated for capture of the first measurement data (102) having a first error tolerance (110) and wherein the first measurement data capture device (103) has a first measurement data transmission interface (107) that is designed to transmit the first measurement data (102) and a first piece of calibration information (106) about the calibration of the first measurement data capture device (103) to the measurement data server (101); and a second measurement data capture device (105) for capturing the second measurement data (104), wherein the second measurement data capture device (105) is calibrated for capture of the second measurement data (104) having a second error tolerance (112) and wherein the second measurement data capture device (105) has a second measurement data transmission interface (109) that is designed to transmit the second measurement data (104) and a second piece of calibration information (108) about the calibration of the second measurement data capture device (105) to the measurement data server (101), wherein the measurement data server (101) has a measurement data capture interface (111) that is designed to receive the first measurement data (102) and the first calibration information (106) from the first measurement data capture device (103), and to receive the second measurement data (104) and the second calibration information (108) from the second measurement data capture device (105), wherein the measurement data server (101) is further designed to provide the first measurement data (102) and the second measurement data (104) in reference to the first calibration information (106) and the second calibration information (108) of the relevant measurement data capture devices (103, 105).
(FR)La présente invention concerne un système de traitement de données de mesure (100), comportant : un serveur de données de mesure (101) servant à fournir des premières données de mesure (102) ayant une première tolérance d’erreur (110) et des secondes données de mesure (104) ayant une seconde tolérance d’erreur (112), la première tolérance d’erreur (110) étant inférieure à la seconde tolérance d’erreur (112) ; un premier dispositif de détection de données de mesure (103) destiné à la détection des premières données de mesure (102), le premier dispositif de détection de données de mesure (103) étant étalonné pour la détection des premières données de mesure (102) ayant une première tolérance d’erreur (110) et le premier dispositif de détection de données de mesure (103) comprenant une première interface de transmission de données de mesure (107) qui est conçue pour transmettre au serveur de données de mesure (101) les premières données de mesure (102) et une première information d’étalonnage (106) sur l’étalonnage du premier dispositif de détection de données de mesure (103) ; et un second dispositif de détection de données de mesure (105) destiné à la détection des secondes données de mesure (104), le second dispositif de détection de données de mesure (105) étant étalonné pour la détection des secondes données de mesure (104) ayant une seconde tolérance d’erreur (112) et le second dispositif de détection de données de mesure (105) comprenant une seconde interface de transmission de données de mesure (109) qui est conçue pour transmettre au serveur de données de mesure (101) les secondes données de mesure (104) et une seconde information d’étalonnage (108) sur l’étalonnage du second dispositif de détection de données de mesure (105). Le serveur de données de mesure (101) comprend une interface de détection de données de mesure (111) qui est conçue pour recevoir les premières données de mesure (102) et la première information d’étalonnage (106) du premier dispositif de détection de données de mesure (103), et pour recevoir les secondes données de mesure (104) et la seconde information d’étalonnage (108) du second dispositif de détection de données de mesure (105). Le serveur de données de mesure (101) est conçu en outre pour fournir, aux dispositifs de détection de données de mesure correspondants (103, 105), les premières données de mesure (102) et les secondes données de mesure (104) en indiquant la première information d’étalonnage (106) et la seconde information d’étalonnage (108).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)