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1. (WO2016114473) CIRCUIT DE TEST DE DÉFAILLANCE RF DE TERMINAL MOBILE ET PROCÉDÉ POUR CELA
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/114473    N° de la demande internationale :    PCT/KR2015/010436
Date de publication : 21.07.2016 Date de dépôt international : 02.10.2015
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : LG ELECTRONICS INC. [KR/KR]; 128, Yeoui-daero Yeongdeungpo-gu Seoul 07336 (KR)
Inventeurs : OH, Hyunghoon; (KR).
LEE, Sanghak; (KR).
NAM, Soohyun; (KR).
YOUN, Jekwang; (KR).
YANG, Sooyoul; (KR).
KANG, Jungwan; (KR)
Mandataire : PARK, Jang-Won; (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2015-0007542 15.01.2015 KR
Titre (EN) RF FAILURE TEST CIRCUIT OF MOBILE TERMINAL AND METHOD THEREFOR
(FR) CIRCUIT DE TEST DE DÉFAILLANCE RF DE TERMINAL MOBILE ET PROCÉDÉ POUR CELA
(KO) 이동 단말기의 RF 불량 테스트 회로 및 그 방법
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a mobile terminal and, more particularly, to an RF failure test circuit of a mobile terminal, capable of measuring an RF failure of an antenna, and to a method therefor, the RF failure test circuit comprising: an antenna connected to a feed pad and a short pad; an antenna matching circuit for carrying out the impedance matching of the antenna; and an antenna contact test circuit connected between the antenna matching circuit and at least one of the feed pad and the short pad so as to test a contact failure between each pad and the antenna.
(FR)La présente invention concerne un terminal mobile et, en particulier, un circuit de test de défaillance RF d'un terminal mobile, capable de mesurer une défaillance RF d'une antenne, et un procédé pour cela, le circuit de test de défaillance RF comprenant : une antenne connectée à une pastille d'alimentation et une pastille de court-circuit ; un circuit d'adaptation d'antenne permettant d'effectuer l'adaptation d'impédance de l'antenne ; et un circuit de test de contact d'antenne connecté entre le circuit d'adaptation d'antenne et au moins une pastille parmi la pastille d'alimentation et la pastille de court-circuit de façon à tester une défaillance de contact entre chaque pastille et l'antenne.
(KO)본 발명은 이동 단말기에 관한 것으로, 특히 안테나의 RF 불량을 측정할 수 있는 이동 단말기의 RF불량 테스트 회로 및 그 방법에 관한 것으로, 피드 패드와 쇼트 패드에 연결된 안테나; 안테나의 임피던스 매칭을 수행하는 안테나 매칭 회로; 및 상기 안테나 매칭회로와 상기 피드 패드와 쇼트 패드 중 적어도 하나사이에 연결되어, 각 패드와 안테나간의 접촉 불량을 테스트하기 위한 안테나 접촉 테스트 회로;를 포함할 수 있다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)