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1. WO2016106605 - PROCÉDÉ DE VÉRIFICATION DE SIMULATION POUR MODULE FONCTIONNEL FPGA ET SYSTÈME ASSOCIÉ

Numéro de publication WO/2016/106605
Date de publication 07.07.2016
N° de la demande internationale PCT/CN2014/095667
Date du dépôt international 30.12.2014
CIB
G01R 31/317 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
CPC
G01R 31/31703
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31703Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
G01R 31/31704
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31704Design for test; Design verification
G01R 31/3177
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3177Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
G01R 31/318364
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
318364as a result of hardware simulation, e.g. in an HDL environment
G01R 31/318385
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
318385Random or pseudo-random test pattern
G01R 31/318519
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318516Test of programmable logic devices [PLDs]
318519Test of field programmable gate arrays [FPGA]
Déposants
  • 京微雅格(北京)科技有限公司 CAPITAL MICROELECTRONICS CO., LTD. [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 王元鹏 WANG, Yuanpeng
  • 樊平 FAN, Ping
  • 耿嘉 GENG, Jia
Mandataires
  • 北京亿腾知识产权代理事务所 E-TONE INTELLECTUAL PROPERTY FIRM
Données relatives à la priorité
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) SIMULATION VERIFICATION METHOD FOR FPGA FUNCTIONAL MODULE AND SYSTEM THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE VÉRIFICATION DE SIMULATION POUR MODULE FONCTIONNEL FPGA ET SYSTÈME ASSOCIÉ
(ZH) 一种FPGA功能模块仿真验证方法及其系统
Abrégé
(EN)
A simulation verification method for an FPGA functional module and a system thereof. The method comprises: by enumerating all the parameter characteristics of various FPGA functional modules, generating all the test cases (101); according to the input type and parameter characteristics of an FPGA functional module to be tested, generating a simulation test platform configured to match the corresponding FPGA functional module to be tested (102); and according to the input parameter characteristics of the FPGA functional module to be tested, the simulation test platform randomly generating a test excitation and a corresponding desired output, comparing the desired output with the actual output after the test excitation is applied to a test case corresponding to the FPGA functional module to be tested, and outputting a test report of the FPGA functional module to be tested according to a comparison result (103). All the test cases are acquired on the basis of all the pieces of parameter characteristic information about an FPGA functional module, thereby greatly improving the test coverage rate.
(FR)
L'invention concerne un procédé de vérification de simulation pour un module fonctionnel FPGA et un système associé. Le procédé comprend les étapes suivantes : par énumération de toutes les caractéristiques de paramètre de divers modules fonctionnels FPGA, générer l'ensemble des cas d'essai (101) ; selon le type d'entrée et les caractéristiques de paramètre d'un module fonctionnel FPGA à soumettre à un essai, générer une plate-forme d'essai de simulation configurée de façon à correspondre au module fonctionnel FPGA à soumettre à un essai (102) ; et selon les caractéristiques de paramètre d'entrée du module fonctionnel FPGA à soumettre à un essai, générer par la plate-forme d'essai de simulation de manière aléatoire une excitation d'essai et une sortie souhaitée correspondante, comparer la sortie souhaitée avec la sortie réelle après que l'excitation d'essai est appliquée à un cas d'essai correspondant au module fonctionnel FPGA à soumettre à un essai, et délivrer en sortie un rapport d'essai du module fonctionnel FPGA à soumettre à un essai conformément à un résultat de comparaison (103). Tous les cas d'essai sont acquis sur la base de toutes les parties d'informations de caractéristique de paramètre concernant un module fonctionnel FPGA, ce qui améliore considérablement le taux de couverture d'essai.
(ZH)
一种FPGA功能模块仿真验证方法及其系统,该方法包括:通过枚举各个FPGA功能模块全部的参数特征,产生全部的测试用例(101);根据输入的待测FPGA功能模块类型和参数特征,产生匹配相应待测FPGA功能模块配置的仿真测试平台(102);仿真测试平台根据输入的待测FPGA功能模块参数特征,随机生成测试激励和相应的期望输出,将期望输出与测试激励施加在待测FPGA功能模块对应的测试用例后的实际输出进行比较,根据比较结果输出待测FPGA功能模块的测试报告(103)。基于FPGA功能模块的全部参数特征信息获取全部的测试用例,大大提升了测试覆盖率。
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