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1. WO2016090017 - COMMANDE DE TEST DE CIRCUIT DIAGNOSTIQUE

Numéro de publication WO/2016/090017
Date de publication 09.06.2016
N° de la demande internationale PCT/US2015/063470
Date du dépôt international 02.12.2015
CIB
G01R 19/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
G01R 13/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
13Dispositions pour la présentation de variables électriques ou de formes d'ondes
G06F 3/01 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
3Dispositions d'entrée pour le transfert de données à traiter pour leur donner une forme utilisable par le calculateur; Dispositions de sortie pour le transfert de données de l'unité de traitement à l'unité de sortie, p.ex. dispositions d'interface
01Dispositions d'entrée ou dispositions d'entrée et de sortie combinées pour l'interaction entre l'utilisateur et le calculateur
CPC
G01R 1/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
G01R 1/06788
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06788Hand-held or hand-manipulated probes, e.g. for oscilloscopes or for portable test instruments
G01R 15/125
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
15Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00 and G01R33/00 - G01R35/00
12Circuits for multi-testers ; , i.e. multimeters; , e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
125for digital multimeters
G01R 31/3278
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
3277of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
3278of relays, solenoids or reed switches
G01R 31/44
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
44Testing lamps
G01R 31/54
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
54Testing for continuity
Déposants
  • BARDEN, David [US]/[US]
  • CARTON, Joshua [US]/[US]
  • RUSSELL, Wayne [US]/[US]
Inventeurs
  • BARDEN, David
  • CARTON, Joshua
  • RUSSELL, Wayne
Mandataires
  • SAYED, Hani, Z.
Données relatives à la priorité
14/955,55701.12.2015US
62/087,16503.12.2014US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) DIAGNOSTIC CIRCUIT TEST DRIVE
(FR) COMMANDE DE TEST DE CIRCUIT DIAGNOSTIQUE
Abrégé
(EN)
An apparatus is provided for a diagnostic circuit test device having multi-meter functionality and being adapted to provide current sourcing to an electrical system for selective measurement of a plurality of parameters thereof in powered and unpowered states. The diagnostic circuit test device comprises a conductive probe element configured to be placed into contact with the electrical system and provide an input signal thereto. A power supply is interconnected between an internal power source and the conductive probe element. Processors are electrically connected to the conductive probe element and configured to manipulate the input signal provided to the electrical system and receive an output signal in response to the input signal. The output signal is representative of at least one of the parameters of the electrical system. A display device is configured to display a reading of the output signal which is representative of the parameter.
(FR)
La présente invention concerne un appareil pour un dispositif de test de circuit diagnostique ayant une fonctionnalité multi-mesures et étant adapté pour fournir un approvisionnement de courant d’un système électrique pour la mesure sélective d'une pluralité de paramètres de celui-ci dans des états alimenté et non alimenté. Le dispositif de test de circuit de diagnostic comprend un élément de sonde conducteur configuré pour être placé en contact avec le système électrique et fournir un signal d'entrée à celui-ci. Une alimentation électrique est interconnectée entre une source d'alimentation interne et l'élément de sonde conducteur. Des processeurs sont électriquement connectés à l'élément de sonde conducteur et configurés pour manipuler le signal d'entrée fourni au système électrique et recevoir un signal de sortie en réponse au signal d'entrée. Le signal de sortie est représentatif d'au moins un des paramètres du système électrique. Un dispositif d'affichage est configuré pour afficher une lecture du signal de sortie qui est représentative du paramètre.
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