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1. (WO2016042760) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE TRAJET DE FLUIDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/042760    N° de la demande internationale :    PCT/JP2015/004705
Date de publication : 24.03.2016 Date de dépôt international : 15.09.2015
CIB :
G01M 3/26 (2006.01), G01M 99/00 (2011.01)
Déposants : TAKASHIN CO.,LTD. [JP/JP]; 193-1, Inamura, Machii, Hirakawa-shi, Aomori 0360114 (JP)
Inventeurs : YOSHIOKA, Jun; (JP).
SASAKI, Takuji; (JP).
KOGAWA, Jun; (JP).
FUJITA, Masaki; (JP).
AKAHIRA, Toshiki; (JP)
Mandataire : SUZUKI, Sohbe; (JP)
Données relatives à la priorité :
2014-189770 18.09.2014 JP
Titre (EN) FLUID PATH INSPECTION DEVICE AND FLUID PATH INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE TRAJET DE FLUIDE
(JA) 流体経路検査装置及び流体経路検査方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided are a fluid path inspection device and fluid path inspection method capable of simply carrying out categorization, analysis, and the like, of abnormality modes indicating, for example, whether a problem is a system problem, a leak in a dedicated tube, or a clamping pressure problem. The fluid path inspection device is provided with an abnormality emulation unit 21b that has proportional solenoid valves for pressure adjustment (V1a2, V1a4, V1a6, V1b2, V1b4, V1b6) and is for emulating, through fluid pressurization by a pressurization means under measurement 303 and fluid pressure adjustment by the proportional solenoid valves for pressure adjustment, fluid circuit characteristics exhibited by a plurality of abnormality modes that can occur in a fluid path of a device under measurement 3 and inspecting abnormalities in the fluid path of the device under measurement 3.
(FR)L'invention concerne un dispositif et un procédé d'inspection de trajet de fluide susceptibles de réaliser simplement une catégorisation, une analyse, et analogues, de modes d'anomalie indiquant, par exemple, si un problème est un problème système, une fuite dans un tube dédié, ou un problème de pression de serrage. Le dispositif d'inspection de trajet de fluide est pourvu d'une unité d'émulation d'anomalie (21b) qui possède des vannes électromagnétiques proportionnelles pour l'ajustement de la pression (V1a2, V1a4, V1a6, V1b2, V1b4, V1b6) et permet d'émuler, par le biais d'une mise sous pression du fluide par un moyen de mise sous pression en cours de mesure (303) et de l'ajustement de la pression du fluide par les vannes électromagnétiques proportionnelles pour l'ajustement de la pression, des caractéristiques de circuit fluidique présentées par une pluralité de modes d'anomalies qui peuvent survenir dans un trajet de fluide d'un dispositif en cours de mesure (3) et pour inspecter des anomalies dans le trajet de fluide du dispositif en cours de mesure (3).
(JA) システム上の問題なのか、専用チューブのリークなのか、締め付け圧力の不具合の問題なのか等の異常モードの分類やその異常モードの分析等が簡単にできる流体経路検査装置及び流体経路検査方法を提供する。圧力調整用比例電磁弁(V1a2,V1a4,V1a6,V1b2,V1b4,V1b6)を有し、被測定機器3の流体経路に発生する可能性のある複数の異常モードのそれぞれが呈する流体回路の特性を、被測定加圧手段303による流体圧力の加圧と圧力調整用比例電磁弁による流体圧力の調整によってそれぞれエミュレートして、被測定機器3の流体経路の異常を検査する異常エミュレーションユニット21bを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)