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1. (WO2016008470) DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE D'OBJETS À CONTRÔLER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/008470    N° de la demande internationale :    PCT/DE2015/100221
Date de publication : 21.01.2016 Date de dépôt international : 03.06.2015
CIB :
B29C 47/92 (2006.01), G01B 11/06 (2006.01), G01N 21/3581 (2014.01)
Déposants : INOEX GMBH [DE/DE]; Maschweg 70 49324 Melle (DE)
Inventeurs : STICH, Dominik; (DE)
Mandataire : BREMER, Ulrich, H.; Advopat Patent- und Rechtsanwälte Theaterstr. 6 30159 Hannover (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2014 214 046.3 18.07.2014 DE
Titre (DE) MESSVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR VERMESSUNG VON PRÜFOBJEKTEN
(EN) MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING TEST OBJECTS
(FR) DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE D'OBJETS À CONTRÔLER
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Messvorrichtung zur Vermessung von Prüfobjekten mit einer Sender-Empfänger-Einheit mit einem Sender zum Emittieren von Terahertz-Strahlung (S) in einer x-y-Ebene (Exy) ausgehend von einem Strahlpunkt (SP) und einem Empfänger zum Detektieren einer an dem Prüfobjekt (2) reflektierten Strahlung (R). Die Messvorrichtung hat eine Kollimator-Fokussier-Anordnung (4) mit Kollimator-Fokussier-Elementen (14, 15, 16, 17) zur Umformung der emittierten Strahlung (S) in kollimierte Strahlung (S) und zur Fokussierung der reflektierten Strahlung (R) in den Strahlpunkt (SP), wobei die Kollimator-Fokussier-Elemente (14, 15, 16, 17) derart angeordnet sind, dass zwei benachbarte Kollimator-Fokussier-Elemente (14, 15, 16, 17) einen Winkel ((XKF) von im Wesentlichen 90° einschließen. Die Messvorrichtung umfasst ferner eine Spiegel-Anordnung (5) mit Spiegel-Elementen (19, 20, 21, 22) zum Umlenken der kollimierten Strahlung (S) und der reflektierten Strahlung (R) zwischen der Kollimator-Fokussier-Anordnung (4) und dem Prüfobjektaufnahmebereich (6). Zwei benachbarte Spiegel-Elemente (19, 20, 21, 22) schließen einen Winkel (OISE) von im Wesentlichen 90° ein.
(EN)The invention relates to a measuring device for measuring test objects, comprising a transmitter/receiver unit with a transmitter for emitting terahertz radiation (S) in an xy-plane (Exy), emanating from a beam point (SP), and with a receiver for detecting radiation (R) reflected at the test object (2). The measuring device has a collimation/focusing arrangement (4) with collimation/focusing elements (14, 15, 16, 17) for reshaping the emitted radiation (S) into collimated radiation (S) and for focusing the reflected radiation (R) onto the beam point (SP), wherein the collimation/focusing elements (14, 15, 16, 17) are arranged in such a way that two adjacent collimation/focusing elements (14, 15, 16, 17) include an angle (XKF) of substantially 90°. The measuring device furthermore comprises a mirror arrangement (5) with mirror elements (19, 20, 21, 22) for deflecting the collimated radiation (S) and the reflected radiation (R) between the collimator/focusing arrangement (4) and the test object receptacle region (6). Two adjacent mirror elements (19, 20, 21, 22) include an angle (OISE) of substantially 90°.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure servant à mesurer des objets à contrôler, comprenant une unité émetteur-récepteur présentant un émetteur servant à émettre un rayonnement térahertz (S) dans un plan x-y(Exy) à partir d'un point de faisceau (SP) et un récepteur servant à détecter un rayonnement (R) réfléchi sur l'objet à contrôler (2). Le dispositif de mesure présente un ensemble de collimation et de focalisation (4) comportant des éléments de collimation et de focalisation (14, 15, 16, 17) permettant de transformer le rayonnement émis (S) en rayonnement collimaté (S) et de focaliser le rayonnement réfléchi (R) dans le point de rayonnement (SP), les éléments de collimation et de focalisation (14, 15, 16, 17) étant disposés de telle manière que deux éléments de collimation et de focalisation (14, 15, 16, 17) adjacents forment un angle ((XKF) de sensiblement 90°. Le dispositif de mesure comprend en outre un ensemble de miroirs (5) présentant des éléments miroir (19, 20, 21, 22) servant à dévier le rayonnement (S) collimaté et le rayonnement réfléchi (R) entre l'ensemble de collimation et de focalisation (4) et la zone de réception (6) de l'objet à contrôler. Deux éléments miroirs (19, 20, 21, 22) adjacents forment un angle (OISE) de sensiblement 90°.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)