WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2016005761) MONITEUR DE RADON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2016/005761    N° de la demande internationale :    PCT/GB2015/051998
Date de publication : 14.01.2016 Date de dépôt international : 10.07.2015
CIB :
G01T 1/169 (2006.01)
Déposants : AIRTHINGS AS [NO/NO]; Parkveien 53 B N-0256 Oslo (NO).
GARDINER, Stephen [GB/GB]; (GB) (MG only)
Inventeurs : YOSHIOKA, Koki; (NO).
SUNDAL, Bjørn Magne; (NO)
Mandataire : DEHNS; St Bride's House 10 Salisbury Square London Greater London EC4Y 8JD (GB)
Données relatives à la priorité :
1412352.5 11.07.2014 GB
Titre (EN) RADON MONITOR
(FR) MONITEUR DE RADON
Abrégé : front page image
(EN)A method of measuring a radon concentration or a radon exposure level comprising: placing a plurality of individual radon measurement instruments at locations, each instrument being capable of data output; receiving radon measurement data from each of said plurality of instruments; combining said data from said plurality of instruments into a single data set; and calculating a radon concentration or radon exposure value from said single data set. Using a plurality of individual detectors and combining their data provides a much better overall analysis of radon concentration or radon exposure level. The calculated value may include producing an average of the radon concentrations across the multiple instruments. The average may be weighted with weights determined according to e.g. different locations such as proximity to ventilation devices or based on the time that an average user spends in each location. The system may calculate weights according to estimates of instrument reliability based on statistical analysis across the multiple instruments. The calculated value may also be a set of values such as time slots or time windows throughout a longer time period and may include averaging or other statistical or analytical functions of the data. Multiple instruments can monitor multiple locations and the data can be combined with scheduling or time/location data to calculate an individual's typical exposure level.
(FR)L'invention se rapporte à un procédé de mesure d'une concentration de radon ou d'un niveau d'exposition au radon, qui consiste : à placer une pluralité d'instruments de mesure de radon individuels à des emplacements, chaque instrument pouvant émettre des données ; à recevoir des données de mesure de radon en provenance de chacun des instruments de la pluralité d'instruments ; à combiner les données provenant de la pluralité d'instruments pour obtenir un unique ensemble de données ; et à calculer une concentration de radon ou une valeur d'exposition au radon à partir de l'ensemble de données unique. L'utilisation d'une pluralité de détecteurs individuels et la combinaison de leurs données permet une bien meilleure analyse globale de la concentration de radon ou du niveau d'exposition au radon. La valeur calculée peut comprendre l'obtention d'une moyenne des concentrations de radon sur les divers instruments. La moyenne peut être pondérée à l'aide de poids déterminés en fonction, par exemple, de différents emplacements tels que la proximité de dispositifs de ventilation, ou selon le temps qu'un utilisateur moyen passe à chaque emplacement. Le système peut calculer des poids en fonction d'estimations de la fiabilité des instruments basées sur une analyse statistique réalisée sur les différents instruments. La valeur calculée peut également être un ensemble de valeurs telles que des intervalles de temps ou des fenêtres de temps sur une plus longue période, et peut inclure le calcul d'une moyenne ou l'exécution d'autres fonctions statistiques ou analytiques sur les données. Plusieurs instruments peuvent surveiller de multiples emplacements, et les données peuvent être combinées avec des données de programmation ou de temps/d'emplacement afin de calculer le niveau d'exposition typique d'un individu.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)