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1. (WO2015140411) SYSTÈME DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/140411    N° de la demande internationale :    PCT/FI2015/050190
Date de publication : 24.09.2015 Date de dépôt international : 20.03.2015
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    19.01.2016    
CIB :
G01N 27/74 (2006.01), B23Q 16/00 (2006.01), G01N 1/36 (2006.01), G01N 27/72 (2006.01), G01R 33/12 (2006.01)
Déposants : MAGNASENSE TECHNOLOGIES OY [FI/FI]; Rajatorpantie 41 C FI-01640 Vantaa (FI)
Inventeurs : SAVONEN, Markus; (FI)
Mandataire : KESPAT OY; Vasarakatu 1 FI-40320 Jyväskylä (FI)
Données relatives à la priorité :
20145267 21.03.2014 FI
Titre (EN) COIL ARRANGEMENT FOR SAMPLE MEASUREMENT WITH A SPATIALLY VARIABLE MAGNETIC FIELD
(FR) SYSTÈME DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉCHANTILLON
Abrégé : front page image
(EN)A first invention relates to a measuring arrangement, which includes a coil arrangement (11) arranged to create a magnetic field (B) in order to measure a sample (14) to be arranged in connection with it, and electronics (13) connected to the coil arrangement for creating a magnetic field (B) using the coil arrangement. The coil arrangement includes at least one flat coil (12), the coil geometry of which is arranged to be changed in the direction (K) of the plane defined by the flat coil, in order to create a spatially changing magnetic field for measuring the sample, and the measuring arrangement (10) includes means (24) for changing the position of the sample and the coil arrangement relative to each other in order to change the magnetic field affecting the sample. In addition, this invention also relates to a method for measuring a sample. A second invention relates to a disc or a plate with several hollow areas in which at least one sample can be placed. A third invention relates to a device aiming at affecting magnetic particles in the sample.
(FR)L'invention concerne un système de mesure comprenant un système de bobine (11) conçu pour créer un champ magnétique (B) afin de mesurer un échantillon (14) destiné à être agencé en connexion avec ce dernier et des composants électroniques (13) connectés au système de bobine pour créer un champ magnétique (B) au moyen du système de bobine. Le système de bobine comprend au moins une bobine plate (12) dont la géométrie est conçue de manière à être modifiée dans la direction (K) du plan défini par la bobine plate de manière à créer un champ magnétique variable spatialement pour mesurer l'échantillon, et le système de mesure (10) comprend des moyens (24) permettant de modifier les positions de l'échantillon et du système de bobine l'une par rapport à l'autre afin de modifier le champ magnétique touchant l'échantillon. L'invention concerne en outre un procédé de mesure d'un échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : finnois (FI)