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1. (WO2015132456) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE SURVEILLANCE DE PHÉNOMÈNES DE SURFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2015/132456    N° de la demande internationale :    PCT/FI2015/050095
Date de publication : 11.09.2015 Date de dépôt international : 18.02.2015
CIB :
G01N 21/552 (2014.01)
Déposants : BIONAVIS OY [FI/FI]; Elopellontie 3C FI-33470 Ylöjärvi (FI)
Inventeurs : SADOWSKI, Janusz; (FI).
GRANQVIST, Niko; (FI).
TUPPURAINEN, Jussi; (FI).
JOKINEN, Annika; (FI)
Mandataire : TAMPEREEN PATENTTITOIMISTO OY; Visiokatu 1 33720 Tampere (FI)
Données relatives à la priorité :
20145207 05.03.2014 FI
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING SURFACE PHENOMENA
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE SURVEILLANCE DE PHÉNOMÈNES DE SURFACE
Abrégé : front page image
(EN)A method for monitoring surface phenomena comprises: - measuring a first surface plasmon resonance angle value (ϕSPR,REF) of a sample region (REG1), - measuring a first critical angle value (ϕTIR,REF) of the sample region (REG1), - causing a change of surface concentration (cM1,SRF) of an analyte (M1) at the sample region (REG1), - changing the bulk composition at the sample region (REG1), - measuring a second surface plasmon resonance angle value (ϕSPR(t)) of the sample region (REG1), - measuring a second critical angle value (ϕTIR(t)) of the sample region (REG1), and - determining an indicator value (ϕAUX(t)) indicative of the change of the surface concentration (cM1,SRF), wherein the indicator value (ϕAUX(t)) is determined from the second surface plasmon resonance angle value (ϕSPR(t)) by compensating an effect of the bulk composition, and wherein the magnitude (ϕCOMP) of said effect is determined by using the second critical angle value (ϕTIR(t)).
(FR)La présente invention concerne un procédé de surveillance de phénomènes de surface, le procédé comprenant les étapes consistant à : - mesurer une première valeur d'angle de résonance plasmonique de surface (ϕSPR,REF) d'une région échantillon (REG1), - mesurer une première valeur d'angle critique (ϕTIR,REF) de la région échantillon (REG1), - modifier la concentration en surface (cM1,SRF) d'un analyte (M1) dans la région échantillon (REG1), - modifier la composition en vrac au niveau de la région échantillon (REG1), - mesurer une seconde valeur d'angle de résonance plasmonique de surface (ϕSPR(t)) de la région échantillon (REG1), - mesurer une seconde valeur d'angle critique (ϕTIR(t)) de la région échantillon (REG1), et - déterminer une valeur d'indicateur (ϕAUX(t)) indiquant la modification de la concentration en surface (cM1,SRF), la valeur d'indicateur (ϕAUX(t)) étant déterminée à partir de la seconde valeur d'angle de résonance plasmonique de surface (ϕSPR(t)) par compensation d'un effet de la composition en vrac, et l'importance (ϕCOMP) dudit effet étant déterminée par l'utilisation de la seconde valeur d'angle critique (ϕTIR(t)).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)