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1. WO2015080637 - ESSAI DE REGISTRE À DÉCALAGE À BOUCLE FERMÉE

Numéro de publication WO/2015/080637
Date de publication 04.06.2015
N° de la demande internationale PCT/SE2013/051407
Date du dépôt international 28.11.2013
CIB
G06F 7/58 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
7Méthodes ou dispositions pour le traitement de données en agissant sur l'ordre ou le contenu des données manipulées
58Générateurs de nombres aléatoires ou pseudo-aléatoires
G01R 31/3181 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
G11C 19/00 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
19Mémoires numériques dans lesquelles l'information est déplacée par échelons, p.ex. registres à décalage
CPC
G01R 31/31703
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31703Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
G01R 31/31723
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31723Hardware for routing the test signal within the device under test to the circuits to be tested, e.g. multiplexer for multiple core testing, accessing internal nodes
G01R 31/3177
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3177Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
G01R 31/31813
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
31813Test pattern generators
G01R 31/318547
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318533using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
318544Scanning methods, algorithms and patterns
318547Data generators or compressors
G11C 19/28
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
19Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift register
28using semiconductor elements
Déposants
  • TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (PUBL) [SE]/[SE]
Inventeurs
  • SELANDER, Göran
  • NÄSLUND, Mats
  • DUBROVA, Elena
Mandataires
  • EGRELIUS, Fredrik
Données relatives à la priorité
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) TESTING A FEEDBACK SHIFT-REGISTER
(FR) ESSAI DE REGISTRE À DÉCALAGE À BOUCLE FERMÉE
Abrégé
(EN)
A Feedback Shift-Register (FSR) (400) enabling improved testing, in particular Built-In Self-Tests (BIST), is provided. Each cell (401) of the FSR may either be an observable cell, associated with a non-trivial feedback function (402) implemented by a combinational logic circuit, or a controllable cell, having an associated state variable which belongs to the dependence set of exactly one of the non-trivial feedback functions. Each controllable cell(420)is provided with a multiplexer (423) for selecting either a predecessor cell of the controllable cell or a test value as input. As a result, the sequential circuit of the FSR may be tested using tests for combinational logic. The disclosed test procedures utilize a minimal set of test vectors and allow detection of all single stuck-at faults in the FSR. The proposed modifications do not increase the propagation delay of the original design, and the resulting dynamic power dissipation during test is considerably less than that of known BIST designs.
(FR)
L'invention concerne un registre à décalage à boucle fermée (FSR) (400) qui permet des essais améliorés, en particulier des auto-essais intégrés (BIST). Chaque cellule (401) du FSR peut soit être une cellule observable, associée à une fonction de rétroaction non triviale (402) mise en œuvre par un circuit logique combinatoire, ou une cellule commandable, ayant une variable d'état associée qui appartient à l'ensemble de dépendances d'exactement une fonction parmi les fonctions de rétroaction non triviales. Chaque cellule commandable (420) est pourvue d'un multiplexeur (423) pour sélectionner soit une cellule prédécesseur à la cellule commandable, soit une valeur d'essai comme entrée. Par conséquent, le circuit séquentiel du FSR peut être essayé au moyen d'essais de logique combinatoire. Les procédés d'essai selon l'invention utilisent un ensemble minimal de vecteurs d'essai et permettent la détection de toutes les fautes de type collé à zéro uniques dans le FSR. Les modifications proposées n'augmentent pas les retards de propagation du schéma d'origine, et la dissipation de puissance dynamique résultante pendant les essais est considérablement inférieure à celle des schémas de BIST connues.
Également publié en tant que
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