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1. WO2015018455 - ÉQUIPEMENT DE TEST AUTOMATISÉ, FOURNISSEUR D'INSTRUCTIONS DE FOURNITURE D'UNE SÉQUENCE D'INSTRUCTIONS, PROCÉDÉ DE FOURNITURE D'UN SIGNAL À UN DISPOSITIF FAISANT L'OBJET D'UN TEST, PROCÉDÉ DE FOURNITURE D'UNE SÉQUENCE D'INSTRUCTIONS ET SYSTÈME DE TEST

Numéro de publication WO/2015/018455
Date de publication 12.02.2015
N° de la demande internationale PCT/EP2013/066728
Date du dépôt international 09.08.2013
CIB
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 31/31703
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31703Comparison aspects, e.g. signature analysis, comparators
G01R 31/3177
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3177Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
G01R 31/31917
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
Déposants
  • ADVANTEST CORPORATION [JP]/[JP] (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
  • AHMED, Kazi Iftekhar [BD]/[DE] (US)
Inventeurs
  • AHMED, Kazi Iftekhar
Mandataires
  • BURGER, Markus
Données relatives à la priorité
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATED TEST EQUIPMENT, INSTRUCTION PROVIDER FOR PROVIDING A SEQUENCE OF INSTRUCTIONS, METHOD FOR PROVIDING A SIGNAL TO A DEVICE UNDER TEST, METHOD FOR PROVIDING A SEQUENCE OF INSTRUCTIONS AND TEST SYSTEM
(FR) ÉQUIPEMENT DE TEST AUTOMATISÉ, FOURNISSEUR D'INSTRUCTIONS DE FOURNITURE D'UNE SÉQUENCE D'INSTRUCTIONS, PROCÉDÉ DE FOURNITURE D'UN SIGNAL À UN DISPOSITIF FAISANT L'OBJET D'UN TEST, PROCÉDÉ DE FOURNITURE D'UNE SÉQUENCE D'INSTRUCTIONS ET SYSTÈME DE TEST
Abrégé
(EN)
An automated test equipment comprises a test processor configured to provide a signal to a device under test on the basis of a sequence of instructions defining an evaluation of test vectors. The test processor is configured to map a test vector onto a set of signal states or signal transitions. Furthermore, the test processor is configured to variably select a number of signal states or signal transitions provided in the signal based on a current test vector in dependence on a current instruction.
(FR)
La présente invention concerne un équipement de test automatisé comprenant un processeur de test conçu pour fournir un signal à un dispositif faisant l'objet d'un test sur la base d'une séquence d'instructions définissant une évaluation de vecteurs de test. Le processeur de test est conçu pour mapper un vecteur de test sur un ensemble d'états de signal ou de transitions de signal. De plus, le processeur de test est conçu pour sélectionner de manière variable un nombre d'états de signal ou de transitions de signal fournis dans le signal sur la base d'un vecteur de test courant en fonction d'une instruction courante.
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