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1. (WO2014098202) SYSTÈME ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE DÉTERMINER UN DÉFAUT SUR LA SURFACE D'UN OBJET
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2014/098202    N° de la demande internationale :    PCT/JP2013/084173
Date de publication : 26.06.2014 Date de dépôt international : 13.12.2013
CIB :
G06T 7/00 (2006.01), G06T 7/60 (2006.01)
Déposants : MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP)
Inventeurs : KNIAZEV, Andrei; (US)
Mandataire : SOGA, Michiharu; S. Soga & Co., 8th Floor, Kokusai Building, 1-1, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1000005 (JP)
Données relatives à la priorité :
13/716,670 17.12.2012 US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING A DEFECT ON A SURFACE OF AN OBJECT
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE DÉTERMINER UN DÉFAUT SUR LA SURFACE D'UN OBJET
Abrégé : front page image
(EN)A method determines a defect on a surface of an object. A symmetric representation of at least part of the object is generated and a pair of unmatched areas between the surface of the object and a surface of the symmetric representation is determined. Next, the defect on the surface of the object is determined based on the pair of unmatched areas.
(FR)La présente invention concerne un procédé qui détermine un défaut sur la surface d'un objet. Une représentation symétrique d'au moins une partie de l'objet est générée et une paire de zones non appariées entre la surface de l'objet et une surface de la représentation symétrique est déterminée. Par la suite, le défaut sur la surface de l'objet est déterminé sur la base de la paire de zones non appariées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)