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1. WO2014098202 - SYSTÈME ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE DÉTERMINER UN DÉFAUT SUR LA SURFACE D'UN OBJET

Numéro de publication WO/2014/098202
Date de publication 26.06.2014
N° de la demande internationale PCT/JP2013/084173
Date du dépôt international 13.12.2013
CIB
G06T 7/00 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
G06T 7/60 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
60Analyse des attributs géométriques
CPC
G06F 30/20
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
30Computer-aided design [CAD]
20Design optimisation, verification or simulation
G06T 2207/30164
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
2207Indexing scheme for image analysis or image enhancement
30Subject of image; Context of image processing
30108Industrial image inspection
30164Workpiece; Machine component
G06T 7/001
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
0002Inspection of images, e.g. flaw detection
0004Industrial image inspection
001using an image reference approach
G06T 7/68
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
60Analysis of geometric attributes
68of symmetry
Déposants
  • MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • KNIAZEV, Andrei
Mandataires
  • SOGA, Michiharu
Données relatives à la priorité
13/716,67017.12.2012US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING A DEFECT ON A SURFACE OF AN OBJECT
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE DÉTERMINER UN DÉFAUT SUR LA SURFACE D'UN OBJET
Abrégé
(EN)
A method determines a defect on a surface of an object. A symmetric representation of at least part of the object is generated and a pair of unmatched areas between the surface of the object and a surface of the symmetric representation is determined. Next, the defect on the surface of the object is determined based on the pair of unmatched areas.
(FR)
La présente invention concerne un procédé qui détermine un défaut sur la surface d'un objet. Une représentation symétrique d'au moins une partie de l'objet est générée et une paire de zones non appariées entre la surface de l'objet et une surface de la représentation symétrique est déterminée. Par la suite, le défaut sur la surface de l'objet est déterminé sur la base de la paire de zones non appariées.
Également publié en tant que
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