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1. WO2013164904 - DISPOSITIF OPTIQUE ET APPAREIL DE DÉTECTION

Numéro de publication WO/2013/164904
Date de publication 07.11.2013
N° de la demande internationale PCT/JP2013/002722
Date du dépôt international 23.04.2013
CIB
G01N 21/65 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
65Diffusion de Raman
CPC
G01N 21/658
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
65Raman scattering
658enhancement Raman, e.g. surface plasmons
G01N 2201/06113
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2201Features of devices classified in G01N21/00
06Illumination; Optics
061Sources
06113Coherent sources; lasers
Déposants
  • セイコーエプソン株式会社 SEIKO EPSON CORPORATION [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 坂上 裕介 SAKAGAMI, Yusuke
  • 山田 耕平 YAMADA, Kohei
  • 山田 明子 YAMADA, Akiko
Mandataires
  • 上柳 雅誉 KAMIYANAGI, Masataka
Données relatives à la priorité
2012-10446201.05.2012JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) OPTICAL DEVICE AND DETECTING APPARATUS
(FR) DISPOSITIF OPTIQUE ET APPAREIL DE DÉTECTION
(JA) 光学デバイス及び検出装置
Abrégé
(EN) Provided are: an optical device which can detect a measurement sample over a wide concentration range, said measurement sample including even a measuring object having a relatively low concentration; and a detecting apparatus. A light from a light source is made to enter an optical device (12), whereby the optical device (12) emits a light which can detect and/or identify a measurement sample. This optical device (12) comprises: multiple metal nanostructures (17) formed on a dielectric body (16); first organic molecule films (18) which are each formed on the dielectric body between two adjacent metal nanostructures; and second organic molecule films (19) which are formed on the multiple metal nanostructures (17) and which are different from the first organic molecule films (18). The first and second organic molecule films adsorb (capture) a measurement sample (1).
(FR) La présente invention porte sur : un dispositif optique qui peut détecter un échantillon de mesure sur une large plage de concentration, ledit échantillon de mesure comprenant même un objet de mesure ayant une concentration relativement faible ; et un appareil de détection. Une lumière provenant d'une source lumineuse est amenée à entrer dans un dispositif optique (12), ce par quoi le dispositif optique (12) émet une lumière qui peut détecter et/ou identifier un échantillon de mesure. Le dispositif optique de la présente invention (12) comprend : de multiples nanostructures métalliques (17) formées sur un corps diélectrique (16) ; de premiers films de molécule organique (18) qui sont chacun formés sur le corps diélectrique entre deux nanostructures métalliques adjacentes ; et de seconds films de molécule organique (19) qui sont formés sur les multiples nanostructures métalliques (17) et qui sont différents des premiers films de molécule organique (18). Les premier et second films de molécule organique adsorbent (capturent) un échantillon de mesure (1).
(JA)  比較的低い濃度の被測定対象であっても、広範囲の濃度の被測定試料を検出することができる光学デバイス及び検出装置を提供すること。 光学デバイス12は、光源からの光が入射され、被測定試料を検出および/または同定する光を出射する。この光学デバイスは、誘電体16上に形成された複数の金属ナノ構造17と、複数の金属ナノ構造のうち隣り合う2つの金属ナノ構造間の誘電体上に形成された第1有機分子膜18と、複数の金属ナノ構造に形成された、第1有機分子膜とは異なる第2有機分子膜19と、を有する。第1有機分子膜及び第2有機分子膜は、被測定試料1を付着(捕捉)する。
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