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1. WO2012023196 - ECHELLE ET INSTRUMENT DOTÉ DE L'ÉCHELLE

Numéro de publication WO/2012/023196
Date de publication 23.02.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2010/063998
Date du dépôt international 19.08.2010
CIB
G01D 13/12 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
DMESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉE À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; DISPOSITIONS NON COUVERTES PAR UNE SEULE DES AUTRES SOUS-CLASSES POUR MESURER PLUSIEURS VARIABLES; APPAREILS COMPTEURS À TARIFS; DISPOSITIONS POUR LE TRANSFERT OU LA TRANSDUCTION DE MESURE NON SPÉCIALEMENT ADAPTÉES À UNE VARIABLE PARTICULIÈRE; MESURES OU TESTS NON PRÉVUS AILLEURS
13Parties constitutives des indicateurs dans les dispositions pour la mesure qui ne sont pas spécialement adaptées à une variable particulière
02Echelles; Cadrans
12Graduation
G01B 3/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
3Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure mécanique
02Règles avec des échelles ou des marques pour la lecture directe
G01B 3/56 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
3Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure mécanique
56Calibres pour mesurer des angles ou des conicités, p.ex. compas à calibrer conique
CPC
G01B 3/006
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
3Instruments as specified in the subgroups and characterised by the use of mechanical measuring means
002Details
004Scales; Graduations
006having both coarse and fine graduation
Déposants
  • 株式会社トヨシコー TOYOSHIKO Co., Ltd. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 原田 伴彦 HARADA, Tomohiko [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 原田 伴彦 HARADA, Tomohiko
Mandataires
  • 宮崎 伊章 MIYAZAKI, Tadaaki
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SCALE AND INSTRUMENT HAVING THE SCALE
(FR) ECHELLE ET INSTRUMENT DOTÉ DE L'ÉCHELLE
(JA) 目盛り及び該目盛りを有する器具
Abrégé
(EN)
A scale (10) comprises: first graduation lines (11) arranged at an interval (P1) in the arrangement direction (21) and extending in the graduation line direction (22); and second to fourth graduation lines (12-14). In a group of two or more fourth graduation lines (14) arranged continuously in the arrangement direction (21), two adjacent graduation lines (14) of the group are arranged so as to be displaced from each other in the graduation line direction (22), and the length L1 of the overlap portion (25) in the arrangement direction (21) is less than or equal to 50% of the length L of the graduation lines (14).
(FR)
L'invention concerne une échelle (10) comprenant : des premières lignes de graduation (11) disposées à un intervalle (P1) dans la direction de disposition (21) et s'étendant dans la direction des lignes de graduation (22) ; et une deuxième, une troisième et une quatrième ligne de graduation (12 à 14). Dans un groupe contenant deux ou plus de deux des quatrièmes lignes de graduation (14) disposées en continu dans la direction de disposition (21), deux lignes de graduation adjacentes (14) du groupe sont disposées de manière à être déplacées l'une par rapport à l'autre dans la direction des lignes de graduation (22), et la longueur L1 de la partie de chevauchement (25) dans la direction de disposition (21) est inférieure ou égale à 50 % de la longueur L des lignes de graduation (14).
(JA)
 目盛り10は、配列方向21に間隔P1に配列された、目盛り線方向22に延びる第1目盛り線11を備え、第2~第4目盛り線12~14を備える。配列方向21に連続して配列された2本以上の第4目盛り線14の一群において、一群の隣接する2つの目盛り線14は目盛り線方向22にずれて配列され、配列方向21における重なり部分25の長さL1が目盛り線14の長さLの50%以下である。
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