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Paramétrages

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1. WO2012011406 - MÉTHODE DE MESURE DE POSITION DE DIAPHRAGME, DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION DE DIAPHRAGME, MÉTHODE DE POSITIONNEMENT DE DIAPHRAGME ET DISPOSITIF DE POSITIONNEMENT DE DIAPHRAGME

Numéro de publication WO/2012/011406
Date de publication 26.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/065835
Date du dépôt international 12.07.2011
CIB
G01M 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
MTEST D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES OU DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; TEST DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11Test des appareils optiques; Test des structures ou des ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
G01B 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
CPC
G01B 11/002
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
002for measuring two or more coordinates
G01B 11/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
14for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
G01M 11/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
G02B 7/003
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
003Alignment of optical elements
Déposants
  • コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社 Konica Minolta Advanced Layers, Inc. [JP/JP]; 東京都八王子市石川町2970番地 2970, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928505, JP (AllExceptUS)
  • 和田一啓 WADA Kazuhiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 和田一啓 WADA Kazuhiro; JP
Mandataires
  • 田村敬二郎 TAMURA Keijiro; 東京都新宿区西新宿七丁目4番3号 升本ビル8階 8th Floor, Masumoto Bldg., 4-3, Nishi-Shinjuku 7-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600023, JP
Données relatives à la priorité
2010-16582823.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) DIAPHRAGM POSITION MEASURING METHOD, DIAPHRAGM POSITION MEASURING DEVICE, DIAPHRAGM POSITIONING METHOD AND DIAPHRAGM POSITIONING DEVICE
(FR) MÉTHODE DE MESURE DE POSITION DE DIAPHRAGME, DISPOSITIF DE MESURE DE POSITION DE DIAPHRAGME, MÉTHODE DE POSITIONNEMENT DE DIAPHRAGME ET DISPOSITIF DE POSITIONNEMENT DE DIAPHRAGME
(JA) 絞り位置測定方法、絞り位置測定装置、絞り位置決め方法及び絞り位置決め装置
Abrégé
(EN)
Disclosed are a diaphragm position measuring method and a diaphragm position measuring device which are capable of accurately measuring the amount of offset between the center of an optical diaphragm and the optical axis. Also disclosed are a diaphragm positioning method and a diaphragm positioning device which are capable of accurately disposing an optical diaphragm in a lens unit. If a light collection spot is formed by causing parallel light to be incident on a lens of a lens unit supported by a glass plate and the position of the light collection spot is detected by a microscope, the position of the light collection spot can be used as a reference point for positioning an optical diaphragm. The amount of offset between the position of the light collection spot and the position of the center of the optical diaphragm obtained by the microscope can be found by a central processing unit, and using the result thereof, the lens unit can be effectively inspected. Consequently, the amount of offset of the position of the center of the optical diaphragm can be detected with an error of ±3 μm or less.
(FR)
L'invention concerne un procédé de mesure de position de diaphragme et un dispositif de mesure de position de diaphragme qui permettent de mesurer avec précision la quantité de décalage entre le centre d'un diaphragme optique et l'axe optique. Sont également décrits une méthode de positionnement de diaphragme et un dispositif de positionnement de diaphragme qui permettent de disposer avec précision un diaphragme optique dans une unité de lentille. Si un spot de collecte de lumière est formé en amenant une lumière parallèle à être incidente sur une lentille d'une unité de lentille supportée par une plaque de verre, et la position du spot de collecte de lumière est détectée par un microscope, la position du spot de collecte de lumière peut être utilisée comme point de référence pour le positionnement d'un diaphragme optique. La quantité de décalage entre la position du spot de collecte de lumière et la position du centre du diaphragme optique obtenue par le microscope peut être trouvée par une unité centrale de traitement, et en utilisant le résultat, l'unité de lentille peut être inspectée efficacement. En conséquence, la quantité de décalage de la position du centre du diaphragme optique peut être détectée avec une erreur de ± 3 mm ou moins.
(JA)
 光学絞りの中心と光軸とのズレ量を精度よく測定できる絞り位置測定方法及び絞り位置測定装置を開示する。また、レンズユニットに光学絞りを精度よく配設することのできる絞り位置決め方法及び絞り位置決め装置を開示する。ガラス板に支持されたレンズユニットのレンズに平行光を入射して集光スポットを形成し、その集光スポットの位置を顕微鏡で検出すれば、これを、光学絞りを位置決めする為の基準点として用いることができる。集光スポットの位置と、顕微鏡で求めた光学絞りの中心位置とのズレ量を、中央演算装置で求めることができ、その結果を用いてレンズユニットの検査を有効に行うことができる。これにより、誤差±3μm以内で光学絞りの中心位置のズレ量を検出できる。
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