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Paramétrages

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1. WO2012009477 - PROCÉDÉS ET APPAREIL POUR FOURNIR UN ESSAI INTÉGRÉ

Numéro de publication WO/2012/009477
Date de publication 19.01.2012
N° de la demande internationale PCT/US2011/043915
Date du dépôt international 13.07.2011
CIB
G06F 11/27 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
26Tests fonctionnels
27Tests intégrés
G01R 31/3187 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3187Tests intégrés
CPC
G01R 31/3187
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3187Built-in tests
G06F 11/27
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
11Error detection; Error correction; Monitoring
22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
26Functional testing
27Built-in tests
Déposants
  • QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; Attn: International Ip Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121, US (AllExceptUS)
  • BANERJEE, Gaurab [IN/IN]; US (UsOnly)
  • BEHERA, Manas [IN/US]; US (UsOnly)
  • BARNETT, Kenneth Charles [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • BANERJEE, Gaurab; US
  • BEHERA, Manas; US
  • BARNETT, Kenneth Charles; US
Mandataires
  • HOOKS, William M.; Attn: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, Califonia 92121, US
Données relatives à la priorité
12/836,46214.07.2010US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHODS AND APPARATUS FOR PROVIDING A BUILT-IN SELF TEST
(FR) PROCÉDÉS ET APPAREIL POUR FOURNIR UN ESSAI INTÉGRÉ
Abrégé
(EN)
A built-in self test (BiST) system is described. The BiST system includes a circuit-under-test. The BiST system also includes one or more embedded sensors. Each of the embedded sensors includes one or more switches connected to one or more nodes within the circuit-under-test. The BiST system further includes a signal generator. The BiST system also includes a bus interface. The bus interface provides for external access of the BiST system.
(FR)
L'invention porte sur un système d'essai intégré (BiST). Le système BiST comprend un circuit à l'essai. Le système BiST comprend également un ou plusieurs capteurs incorporés. Chacun des capteurs incorporés comprend un ou plusieurs commutateurs connectés à un ou à plusieurs nœuds dans le circuit à l'essai. Le système BiST comprend en outre un générateur de signal. Le système BiST comprend également une interface de bus. L'interface de bus permet l'accès externe du système BiST.
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