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Paramétrages

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1. WO2012008004 - CIRCUIT DE DÉTECTION DE TEMPÉRATURE ÉQUIPÉ D'UN CONVERTISSEUR AN ET CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEURS

Numéro de publication WO/2012/008004
Date de publication 19.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2010/007259
Date du dépôt international 14.12.2010
CIB
H03M 1/42 2006.01
HÉLECTRICITÉ
03CIRCUITS ÉLECTRONIQUES FONDAMENTAUX
MCODAGE, DÉCODAGE OU CONVERSION DE CODE, EN GÉNÉRAL
1Conversion analogique/numérique; Conversion numérique/analogique
12Convertisseurs analogiques/numériques
34Valeur analogique comparée à des valeurs de référence
38uniquement séquentiellement, p.ex. du type à approximations successives
42Comparaisons séquentielles dans des étages disposés en série, sans changer la valeur du signal analogique
CPC
H03M 1/002
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
002Provisions or arrangements for saving power, e.g. by allowing a sleep mode, using lower supply voltage for downstream stages, using multiple clock domains or by selectively turning on stages when needed
H03M 1/42
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
12Analogue/digital converters
34Analogue value compared with reference values
38sequentially only, e.g. successive approximation type
42Sequential comparisons in series-connected stages with no change in value of analogue signal
Déposants
  • パナソニック株式会社 PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 大阪府門真市大字門真1006番地 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501, JP (AllExceptUS)
  • 渡邉学 WATANABE, Manabu; null (UsOnly)
  • 伊藤稔 ITO, Minoru; null (UsOnly)
Inventeurs
  • 渡邉学 WATANABE, Manabu; null
  • 伊藤稔 ITO, Minoru; null
Mandataires
  • 前田弘 MAEDA, Hiroshi; 大阪府大阪市中央区本町2丁目5番7号 大阪丸紅ビル Osaka-Marubeni Bldg.,5-7,Hommachi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410053, JP
Données relatives à la priorité
2010-15896813.07.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) TEMPERATURE DETECTION CIRCUIT WITH AD CONVERTER AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE DÉTECTION DE TEMPÉRATURE ÉQUIPÉ D'UN CONVERTISSEUR AN ET CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEURS
(JA) AD変換器を備えた温度検知回路及び半導体集積回路
Abrégé
(EN)
Disclosed is a temperature detection circuit provided with an AD converter, wherein a successive approximation-type AD converter (1) is started temporarily when operation is started and used to AD-convert an analog voltage with temperature dependence from a voltage generation circuit (BGR1), and all bits in that digital signal are secured. Then a power control circuit (2) detects only the output variation of a comparator to which reference voltages adjacent to, above and below, the analog voltage potential have been input, and disconnects power supply to comparators other than the comparator to which the reference voltages adjacent to, above and below, the analog voltage potential have been input. As a result, power consumption is reduced and signal processing time is shortened, without causing deterioration of the resolution of the AD converter, even when the AD converter is used to detect regular signals that are slow to change, such as analog voltages with temperature dependence.
(FR)
La présente invention concerne un circuit de détection de température équipé d'un convertisseur analogique-numérique (CAN), dans lequel un CAN de type à approximation successive (1) est démarré temporairement à la mise en service et utilisé pour convertir en des données numériques une tension analogique dépendant de la température et provenant d'un circuit générateur de tension (BGR1), tous les bits dans ce signal numérique étant sécurisés. Ensuite, un circuit de commande d'alimentation (2) détecte uniquement la variation en sortie d'un comparateur dans lequel ont été entrées des tensions de référence voisines, supérieures et inférieures, au potentiel de la tension analogique, et déconnecte l'alimentation électrique des comparateurs autres que le comparateur dans lequel ont été entrées les tensions de référence voisines, supérieures et inférieures au potentiel de tension analogique. Il en résulte que la consommation d'énergie est diminuée et que le temps de traitement des signaux est raccourci sans provoquer de dégradation de la résolution du CAN, même si le CAN est utilisé pour détecter des signaux réguliers qui varient lentement, tels que des tensions analogiques dépendant de la température.
(JA)
 AD変換器を備えた温度検知回路において、動作開始時に一旦逐次比較型AD変換器1を動作させて、電圧発生回路BGR1からの温度依存性のあるアナログ電圧について前記AD変換器1でAD変換して、そのデジタル信号の全ビットを確定する。その後、電力制御回路2は、前記アナログ電圧の電位を挟む上下隣り合う基準電圧が入力されたコンパレータの出力変化のみを検出し、前記アナログ電圧の電位を挟む上下隣り合う基準電圧が入力されたコンパレータ以外のコンパレータへの電源供給を遮断する。従って、温度依存性のあるアナログ電圧のように定常的で変化の遅い信号を前記AD変換器を用いて検知する場合にも、そのAD変換器の分解能を劣化させずに、消費電力が削減されると共に信号処理時間が短縮される。
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