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Paramétrages

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1. WO2012004832 - MODULE DE CAPTURE DE PANNES, DISPOSITIF DE TEST L'UTILISANT ET PROCÉDÉ DE CAPTURE DE PANNES

Numéro de publication WO/2012/004832
Date de publication 12.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2010/004442
Date du dépôt international 07.07.2010
CIB
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 31/31935
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
31935Storing data, e.g. failure memory
Déposants
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • 津藤勝 TSUTO, Masaru [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 津藤勝 TSUTO, Masaru; JP
Mandataires
  • 森下賢樹 MORISHITA, Sakaki; 東京都渋谷区恵比寿西2-11-12 2-11-12, Ebisu-Nishi, Shibuya-ku, Tokyo 1500021, JP
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) FAILURE CAPTURE MODULE, TESTING DEVICE USING SAME, AND FAILURE CAPTURE METHOD
(FR) MODULE DE CAPTURE DE PANNES, DISPOSITIF DE TEST L'UTILISANT ET PROCÉDÉ DE CAPTURE DE PANNES
(JA) フェイルキャプチャモジュールおよびそれを用いた試験装置、フェイルキャプチャ方法
Abrégé
(EN)
A failure capture module (FMOD) is provided for each segment that includes m channels (m being an integer greater than or equal to 2), and each failure capture module receives and captures failure data for channels belonging to the corresponding segment. Each segment is divided into n sub-segments (n being an integer greater than or equal to 2), and a sub-segment failure detection unit (101 to 10n) is provided for each sub-segment. If a failure occurs in at least one channel belonging to a sub-segment, the corresponding sub-segment failure detection unit asserts a sub-segment failure datum (S101 to S10n). A capture control unit (30) captures failure data for all m channels into a failure memory (DFM) when one or more sub-segment failure data are asserted.
(FR)
L'invention concerne un dispositif caractérisé en ce qu'un module de capture de pannes (failure capture module, FMOD) équipe chaque segment comprenant m canaux (m étant un entier supérieur ou égal à 2), chaque module de capture de pannes recevant et capturant des données de pannes pour des canaux appartenant au segment correspondant. Chaque segment est divisé en n sous-segments (n étant un entier supérieur ou égal à 2) et une unité (101 à 10n) de détection de pannes de sous-segment équipe chaque sous-segment. Si une panne survient sur au moins un canal appartenant à un sous-segment, l'unité correspondante de détection de pannes du sous-segment déclare une donnée (S101 à S10n) de panne du sous-segment. Une unité (30) de commande de capture assure la capture des données de pannes pour l'ensemble des m canaux dans une mémoire de pannes (DFM) lorsqu'une ou plusieurs données de pannes de sous-segments sont déclarées.
(JA)
 フェイルキャプチャモジュールFMODは、m個(mは2以上の整数)のチャンネルを含むセグメントごとに設けられ、対応するセグメントに属するチャンネルのフェイルデータを受けてキャプチャする。サブセグメントフェイル検出部10~10は、セグメントを分割したn個(nは2以上の整数)のサブセグメントごとに設けられ、それぞれが、対応するサブセグメントに属するチャンネルの少なくともひとつにおいてフェイルが発生すると、サブセグメントフェイルデータS10~S10をアサートする。キャプチャ制御部30は、少なくともひとつのサブセグメントフェイルデータがアサートされると、フェイルメモリDFMにmチャンネルのフェイルデータをキャプチャさせる。
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