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Paramétrages

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1. WO2012004742 - VALIDATION AUTOMATIQUE POINT PAR POINT D'UNE ESTIMATION DE MOUVEMENT RESPIRATOIRE

Numéro de publication WO/2012/004742
Date de publication 12.01.2012
N° de la demande internationale PCT/IB2011/052971
Date du dépôt international 05.07.2011
CIB
G06T 7/00 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
G06T 7/20 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7Analyse d'image
20Analyse du mouvement
G06T 3/00 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
TTRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
3Transformation géométrique de l'image dans le plan de l'image
CPC
G06T 2207/10081
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
2207Indexing scheme for image analysis or image enhancement
10Image acquisition modality
10072Tomographic images
10081Computed x-ray tomography [CT]
G06T 2207/30061
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
2207Indexing scheme for image analysis or image enhancement
30Subject of image; Context of image processing
30004Biomedical image processing
30061Lung
G06T 3/0081
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
3Geometric image transformation in the plane of the image
0068for image registration, e.g. elastic snapping
0081by elastic snapping
G06T 7/0016
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
0002Inspection of images, e.g. flaw detection
0012Biomedical image inspection
0014using an image reference approach
0016involving temporal comparison
G06T 7/20
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
20Analysis of motion
G06T 7/30
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
30Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
Déposants
  • KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven, NL (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
  • PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH [DE/DE]; Lübeckertordamm 5 20099 Hamburg, DE (DE)
  • KABUS, Sven [DE/DE]; NL (UsOnly)
  • KLINDER, Tobias [DE/US]; NL (UsOnly)
  • LORENZ, Cristian [DE/DE]; NL (UsOnly)
Inventeurs
  • KABUS, Sven; NL
  • KLINDER, Tobias; NL
  • LORENZ, Cristian; NL
Mandataires
  • VAN VELZEN, Maaike; High Tech Campus Building 44 NL-5656 AE Eindhoven, NL
Données relatives à la priorité
10169051.909.07.2010EP
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATIC POINT-WISE VALIDATION OF RESPIRATORY MOTION ESTIMATION
(FR) VALIDATION AUTOMATIQUE POINT PAR POINT D'UNE ESTIMATION DE MOUVEMENT RESPIRATOIRE
Abrégé
(EN)
A system for validating motion estimation comprising a field unit (110) for obtaining a deformation vector field (DVF) estimating the motion by transforming a first image at a first phase of the motion into a second image at a second phase of the motion, a metric unit (120) for computing a metric of a local volume change at a plurality of locations, and a conformity unit(130) for computing a conformity measure based on the computed metric of the local volume change at the plurality of locations and a local property of the first or second image defined at the plurality of locations. Based on the value of the conformity measure, the DFV estimating the motion is validated. Experiments show that the conformity measure based on the computed metric of a local volume change at a plurality of locations and the local property of the first or second image, defined at the plurality of locations, does not necessarily favor a large weight for the outer force to provide a more accurate registration. One reason for this observation may be that large deformations providing more accurate alignment often lead to deformations resulting in unreasonably large volume changes. DVFs comprising such deformations thus are more likely to be discarded by the system of the invention.
(FR)
La présente invention a trait à un système permettant de valider une estimation de mouvement, lequel système comprend une unité de champ (110) permettant d'obtenir un champ vectoriel de déformation (DVF) estimant le mouvement en transformant une première image à une première phase du mouvement en une seconde image à une seconde phase du mouvement, une unité métrique (120) permettant de calculer une métrique d'un changement de volume local à plusieurs emplacements, et une unité de conformité (130) permettant de calculer une mesure de conformité en fonction de la métrique calculée du changement de volume local aux multiples emplacements et d'une propriété locale de la première ou de la seconde image définie aux multiples emplacements. En fonction de la valeur de la mesure de conformité, le champ DVF estimant le mouvement est validé. Des expériences montrent que la mesure de conformité basée sur la métrique calculée d'un changement de volume local à de multiples emplacements et sur la propriété locale de la première ou de la seconde image, définie aux multiples emplacements, ne favorise pas nécessairement un poids important pour que la force extérieure fournisse un alignement plus précis. Une raison de cette observation peut résider dans le fait que les déformations importantes fournissant un alignement plus précis conduisent souvent à des déformations ayant pour résultat des changements de volume excessivement importants. Les champs DVF comprenant ces déformations sont par conséquent davantage susceptibles d'être écartés par le système selon la présente invention.
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