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Paramétrages

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1. WO2012003839 - SYSTÈME DE TOMOGRAPHIE DE CONTRASTE À DIFFRACTION DES RAYONS X (DCT), ET PROCÉDÉ DE CONTRASTE À DIFFRACTION DES RAYONS X (DCT) UTILISANT UN PREMIER ET UN SECOND DÉTECTEUR DE RAYONS X

Numéro de publication WO/2012/003839
Date de publication 12.01.2012
N° de la demande internationale PCT/DK2011/050270
Date du dépôt international 08.07.2011
CIB
G01N 23/207 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
207Diffractométrie, p.ex. en utilisant une sonde en position centrale et un ou plusieurs détecteurs déplaçables en positions circonférentielles
CPC
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
Déposants
  • DANMARKS TEKNISKE UNIVERSITET [DK/DK]; Anker Engelundsvej 1 Bygning 101 DK-2800 Lyngby, DK (AllExceptUS)
  • LAURIDSEN, Erik, Mejdal [DK/DK]; DK (UsOnly)
  • POULSEN, Henning, Friis [DK/DK]; DK (UsOnly)
Inventeurs
  • LAURIDSEN, Erik, Mejdal; DK
  • POULSEN, Henning, Friis; DK
Mandataires
  • INDAHL, Peter; Awapatent A/S Rigensgade 11 DK-1316 København K, DK
Données relatives à la priorité
12/913,03427.10.2010US
PA 2010 7032409.07.2010DK
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) AN X-RAY DIFFRACTION CONTRAST TOMOGRAPHY (DCT) SYSTEM, AND AN X-RAY DIFFRACTION CONTRAST (DCT) METHOD USING A FIRST AND A SECONDARY X-RAY DETECTOR
(FR) SYSTÈME DE TOMOGRAPHIE DE CONTRASTE À DIFFRACTION DES RAYONS X (DCT), ET PROCÉDÉ DE CONTRASTE À DIFFRACTION DES RAYONS X (DCT) UTILISANT UN PREMIER ET UN SECOND DÉTECTEUR DE RAYONS X
Abrégé
(EN)
An X-ray diffraction contrast tomography system (DCT) comprising a laboratory X-ray source (2),a staging device (5) rotating a polycrystalline material sample in the direct path of the X-ray beam, a first X-ray 10 detector (6) detecting the direct X-ray beam being transmitted through the crystalline material sample,a second X-ray detector (7) positioned between the staging device and the first X-ray detector for detecting diffracted X-ray beams, and a processing device (15) for analysing detected values. The crystallographic grain orientation of the individual 1 grain in the polycrystalline sample is determined based on the two- dimensional position of extinction spots and the associated angular position of the sample for a set of extinction spots pertaining to the individual grain.
(FR)
La présente invention concerne un système de tomographie de contraste à diffraction des rayons X comprenant une source de rayons X de laboratoire (2), un dispositif de plateau (5) faisant tourner un échantillon de substance polycristalline dans le trajet direct du faisceau de rayons X, un premier détecteur de rayons X (6) détectant le faisceau de rayons X direct passant au travers de l'échantillon de substance polycristalline, et un dispositif de traitement (15) servant à analyser les valeurs détectées. Pour déterminer l'orientation du grain cristallographique de chaque grain de l'échantillon polycristallin, on se base sur la position bidimensionnelle des taches d'extinction et sur la position angulaire associée de l'extension dans le cas d'un ensemble de taches d'extinction se rapportant au grain considéré.
Également publié en tant que
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