Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

1. WO2012003046 - SPECTROSCOPIE À PEIGNE DE FRÉQUENCE À CAVITÉ OPTIQUE PASSIVE EN ANNEAU À DEUX ÉTALONS

Numéro de publication WO/2012/003046
Date de publication 05.01.2012
N° de la demande internationale PCT/US2011/035887
Date du dépôt international 10.05.2011
CIB
G01N 21/31 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
G01N 21/45 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
45en utilisant des méthodes interférométriques; en utilisant les méthodes de Schlieren
CPC
G01J 3/42
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
G01N 21/31
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
G01N 21/3504
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
35using infra-red light
3504for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
G01N 21/45
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
45using interferometric methods; using Schlieren methods
Déposants
  • SANDIA NATIONAL LABORATORIES [US/US]; P.O. Box 969 - MS 9031 Livermore, CA 94550-0969, US (AllExceptUS)
  • CHANDLER, David, W. [US/US]; US (UsOnly)
  • STRECKER, Kevin, E. [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • CHANDLER, David, W.; US
  • STRECKER, Kevin, E.; US
Mandataires
  • SIMON, Marcus, S.; Workman Nydegger 60 East South Temple 1000 Eagle Gate Tower Salt Lake City, UT 84111, US
Données relatives à la priorité
13/050,43017.03.2011US
61/360,94902.07.2010US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) DUAL-ETALON CAVITY RING-DOWN FREQUENCY-COMB SPECTROSCOPY
(FR) SPECTROSCOPIE À PEIGNE DE FRÉQUENCE À CAVITÉ OPTIQUE PASSIVE EN ANNEAU À DEUX ÉTALONS
Abrégé
(EN)
In an embodiment, a dual-etalon cavity-ring-down frequency-comb spectrometer system is described. A broad band light source is split into two beams. One beam travels through a first etalon and a sample under test, while the other beam travels through a second etalon, and the two beams are recombined onto a single detector. If the free spectral ranges ("FSR") of the two etalons are not identical, the interference pattern at the detector will consist of a series of beat frequencies. By monitoring these beat frequencies, optical frequencies where light is absorbed may be determined.
(FR)
Dans un mode de réalisation, il est décrit un système de spectromètre à peigne de fréquence à cavité optique passive en anneau. Une source de lumière à large bande est scindée en deux faisceaux. Un faisceau se déplace à travers un premier étalon et un échantillon d'essai, alors que l'autre faisceau se déplace à travers un second étalon, les deux faisceaux étant recombinés sur un seul détecteur. Si les plages spectrales libres (« FSR ») des deux étalons ne sont pas identiques, le motif d'interférence dans le détecteur se compose d'une série de fréquences de battement. En surveillant ces fréquences de battement, il est possible de déterminer les fréquences optiques où la lumière est absorbée.
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international