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Paramétrages

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1. WO2012002935 - ÉTALONNAGE D'UNE VOIE D'UN SYSTÈME DE TEST

Numéro de publication WO/2012/002935
Date de publication 05.01.2012
N° de la demande internationale PCT/US2010/040436
Date du dépôt international 29.06.2010
CIB
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
G01R 31/317 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
CPC
G01R 31/3191
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31908Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
3191Calibration
Déposants
  • TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, Massachusetts 01864, US (AllExceptUS)
  • BERGERON, Eric Paul [US/US]; US (UsOnly)
  • MEGNA, Damian John [US/US]; US (UsOnly)
  • WHEALLER, John Anson [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • BERGERON, Eric Paul; US
  • MEGNA, Damian John; US
  • WHEALLER, John Anson; US
Mandataires
  • PYSHER, Paul A.; Fish & Richardson P.C. P.O. Box 1022 MInneapolis, Minnesota 55440-1022, US
Données relatives à la priorité
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) CALIBRATING A CHANNEL OF A TEST SYSTEM
(FR) ÉTALONNAGE D'UNE VOIE D'UN SYSTÈME DE TEST
Abrégé
(EN)
Circuitry includes a circuit path that corresponds to a channel of system for testing a device, an element in the circuit path, a first device to measure an electrical parameter associated with the element, a second device to obtain an error signal associated with the channel, and a feedback path electrically connected to the second device to pass the error signal or another signal.
(FR)
L'invention concerne des circuits comprenant un trajet de circuit correspondant à une voie d'un système destiné à tester un dispositif, un élément placé sur le trajet de circuit, un premier dispositif permettant de mesurer un paramètre électrique associé à l'élément, un second dispositif destiné à obtenir un signal d'erreur associé à la voie, et un trajet de retour électriquement connecté au second dispositif pour le passage du signal d'erreur ou d'un autre signal.
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