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Paramétrages

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1. WO2012002224 - DÉTECTEUR DE RAYONNEMENT ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION

Numéro de publication WO/2012/002224
Date de publication 05.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/064281
Date du dépôt international 22.06.2011
CIB
G01T 1/20 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
TMESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16Mesure de l'intensité de radiation
20avec des détecteurs à scintillation
CPC
G01T 1/2018
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
1Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
16Measuring radiation intensity
20with scintillation detectors
2018Scintillation-photodiode combination
Déposants
  • 富士フイルム株式会社 FUJIFILM Corporation [JP/JP]; 東京都港区西麻布2丁目26番30号 26-30, Nishiazabu 2-chome, Minato-ku, Tokyo 1068620, JP (AllExceptUS)
  • 中津川 晴康 NAKATSUGAWA, Haruyasu [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 成行 書史 NARIYUKI, Fumito [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 西納 直行 NISHINOU, Naoyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 大田 恭義 OHTA, Yasunori [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 岩切 直人 IWAKIRI, Naoto [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 中津川 晴康 NAKATSUGAWA, Haruyasu; JP
  • 成行 書史 NARIYUKI, Fumito; JP
  • 西納 直行 NISHINOU, Naoyuki; JP
  • 大田 恭義 OHTA, Yasunori; JP
  • 岩切 直人 IWAKIRI, Naoto; JP
Mandataires
  • 中島 淳 NAKAJIMA, Jun; 東京都新宿区新宿4丁目3番17号 HK新宿ビル7階 太陽国際特許事務所 TAIYO, NAKAJIMA & KATO Seventh Floor, HK-Shinjuku Bldg. 3-17, Shinjuku 4-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1600022, JP
Données relatives à la priorité
2010-15020730.06.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) RADIATION DETECTOR AND METHOD OF PRODUCING SAME
(FR) DÉTECTEUR DE RAYONNEMENT ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 放射線検出器及びその製造方法
Abrégé
(EN)
Disclosed is a radiation detector that is highly sensitive to radiation due to the weight reduction of a substrate for deposition. Also disclosed is a method of producing the radiation detector. The substrate for deposition (104) comprises a plurality of substrates (100, 60) that are laminated via an adhesion layer (102). The radiation detector comprises: a scintillator layer (36) that is deposited on the substrate for deposition (104), and that converts incident radiation into light; and a TFT substrate (30) that is pasted to the scintillator layer (36), and that converts the light emitted from the scintillator layer (36) into a charge. By removing the outside substrate (100) from the inside substrate (60) among the abovementioned plurality of substrates, the weight of the substrate for deposition (104) is reduced.
(FR)
L'invention porte sur un détecteur de rayonnement qui est extrêmement sensible à un rayonnement dû à la réduction de poids d'un substrat pour le dépôt. L'invention porte également sur un procédé de fabrication du détecteur de rayonnement. Le substrat pour le dépôt (104) comporte une pluralité de substrats (100, 60) qui sont stratifiés à l'aide d'une couche d'adhérence (102). Le détecteur de rayonnement comporte : une couche de scintillateur (36) qui est déposée sur le substrat pour le dépôt (104), et qui convertit un rayonnement incident en lumière, et un substrat de transistor à film mince (30) qui est étalé sur la couche de scintillateur (36) et qui convertit la lumière émise de la couche de scintillateur (36) en une charge. En éliminant le substrat extérieur (100) du substrat intérieur (60), parmi la pluralité de substrats susmentionnée, le poids du substrat pour le dépôt (104) est réduit.
(JA)
 堆積用基板の軽量化により、放射線に対して高感度な放射線検出器及びその製造方法を提供する。 堆積用基板(104)は、接着層(102)を介して積層された複数枚の基板(100),(60)からなり、この堆積用基板(104)上に堆積され、入射する放射線を光に変換するシンチレータ層(36)と、このシンチレータ層(36)に貼り付けられ、シンチレータ層(36)から放出された光を電荷に変換するTFT基板(30)とからなる放射線検出器において、上記複数枚の基板のうち外側基板(100)を内側基板(60)から取り除くことにより、堆積用基板(104)の軽量化を達成する。
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