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1. WO2012001979 - SYSTÈME D'ANALYSE D'ABSORPTION ATOMIQUE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE D'ABSORPTION ATOMIQUE

Numéro de publication WO/2012/001979
Date de publication 05.01.2012
N° de la demande internationale PCT/JP2011/003746
Date du dépôt international 30.06.2011
CIB
G01N 21/31 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
G01N 21/73 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
71excité thermiquement
73en utilisant des brûleurs ou torches à plasma
CPC
G01N 21/67
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
66electrically excited, e.g. electroluminescence
67using electric arcs or discharges
G01N 21/73
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
71thermally excited
73using plasma burners or torches
Déposants
  • 国立大学法人名古屋大学 National University Corporation Nagoya University [JP/JP]; 愛知県名古屋市千種区不老町1番 1, Furo-cho, Chikusa-ku, Nagoya-shi, Aichi 4648601, JP (AllExceptUS)
  • NUエコ・エンジニアリング株式会社 NU Eco Engineering Co., Ltd. [JP/JP]; 愛知県みよし市黒笹町馬堤1237-87 1237-87, Umazutsumi, Kurozasa-cho, Miyoshi-shi, Aichi 4700201, JP (AllExceptUS)
  • 堀 勝 HORI, Masaru [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 加納 浩之 KANO, Hiroyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 堀 勝 HORI, Masaru; JP
  • 加納 浩之 KANO, Hiroyuki; JP
Mandataires
  • 藤谷 修 FUJITANI, Osamu; 愛知県名古屋市中区丸の内2丁目18番25号 丸の内KSビル16階 Marunouchi KS Bldg. 16F, 18-25, Marunouchi 2-chome, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600002, JP
Données relatives à la priorité
2010-15033830.06.2010JP
2010-15040230.06.2010JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) ATOMIC ABSORPTION ANALYZER AND METHOD OF ATOMIC ABSORPTION ANALYSIS
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE D'ABSORPTION ATOMIQUE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE D'ABSORPTION ATOMIQUE
(JA) 原子吸光分析装置および原子吸光分析法
Abrégé
(EN)
A novel atomic absorption analyzer in which self-absorption is utilized is rendered possible. The atomic absorption analyzer is configured of an atomizer (1), a mirror (2), and a spectroscope (3). The atomizer (1) generates a plasma (atomization plasma (5)) containing an atomized sample. The atomization plasma (5) is examined for emission intensity without the mirror (2) to determine the emission intensity (Ir1) of the resonance spectral line of a target element and the emission intensity (Iu1) of the excitation spectral line of Ar. The mirror (2) is disposed to generate a ghost (ghost plasma (6)) of the atomization plasma (5) by means of light reflection from the mirror (2), and the atomization plasma (5) in this state is examined for emission intensity to determine the emission intensity (Ir) of the resonance spectral line of the target element and the emission intensity (Iu) of the excitation spectral line of Ar. From the intensities (Ir1), (Iu1), (Ir), and (Iu), the absorption coefficient of the target element due to the self-absorption can be calculated.
(FR)
Cette invention concerne un nouveau système d'analyse d'absorption atomique utilisant l'auto-absorption. Le système d'analyse d'absorption atomique est constitué d'un atomiseur (1), d'un miroir (2) et d'un spectroscope (3). L'atomiseur (1) génère un plasma [plasma d'atomisation (5)] contenant un échantillon atomisé. L'intensité d'émission du plasma d'atomisation (5) est étudiée sans le miroir (2) pour déterminer l'intensité d'émission (Ir1) de la raie spectrale en résonance d'un élément cible et l'intensité d'émission (Iu1) de la raie spectrale d'excitation de l'Ar. Le miroir (2) est placé de manière à générer un plasma secondaire (6) au plasma d'atomisation (5) au moyen de la lumière réfléchie par le miroir (2), et l'intensité d'émission du plasma d'atomisation (5) dans cet état est étudiée pour déterminer l'intensité d'émission (Ir) de la raie spectrale en résonance de l'élément cible et l'intensité d'émission (Iu) de la raie spectrale d'excitation de l'Ar. Les intensités (Ir1), (Iu1), (Ir) et (Iu) permettent de calculer le coefficient d'absorption de l'élément cible dû à l'auto-absorption.
(JA)
【課題】自己吸収を利用した新規な原子吸光分析装置の実現。 【解決手段】原子吸光分析装置は、アトマイザー1と、ミラー2と、分光測定器3とで構成されている。アトマイザー1は、原子化した試料を含むプラズマ(アトマイズプラズマ5)を発生させる。ミラー2のない状態でアトマイズプラズマ5の発光強度を測定し、目的元素の共鳴線スペクトルの発光強度Ir1と、Arの励起線スペクトルの発光強度Iu1を測定する。また、ミラー2を配置し、ミラー2による光の反射によって、アトマイズプラズマ5のゴースト(ゴーストプラズマ6)を発生させた状態で発光強度を測定し、目的元素の共鳴線スペクトルの発光強度Irと、Arの励起線スペクトルの発光強度Iuを測定する。これらIr1、Iu1、Ir、Iuから、目的元素の自己吸収による吸収率を算出することができる。
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