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1. WO2011162139 - DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATISÉ ET PROCÉDÉ D'ANALYSE AUTOMATISÉ

Numéro de publication WO/2011/162139
Date de publication 29.12.2011
N° de la demande internationale PCT/JP2011/063663
Date du dépôt international 15.06.2011
CIB
G01N 21/51 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
49dans un corps ou dans un fluide
51à l'intérieur d'un récipient, p.ex. dans une ampoule
G01N 35/00 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
CPC
G01N 15/0211
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
15Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
02Investigating particle size or size distribution
0205by optical means, e.g. by light scattering, diffraction, holography or imaging
0211Investigating a scatter or diffraction pattern
G01N 21/51
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
49within a body or fluid
51inside a container, e.g. in an ampoule
G01N 35/025
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
35Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
02using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
025having a carousel or turntable for reaction cells or cuvettes
G06F 17/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
17Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
Déposants
  • 株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 田村 太久夫 TAMURA Takuo [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 芝 正樹 SHIBA Masaki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 足立 作一郎 ADACHI Sakuichiro [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 田村 太久夫 TAMURA Takuo
  • 芝 正樹 SHIBA Masaki
  • 足立 作一郎 ADACHI Sakuichiro
Mandataires
  • 春日 讓 KASUGA Yuzuru
Données relatives à la priorité
2010-14225923.06.2010JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) AUTOMATED ANALYSIS DEVICE AND AUTOMATED ANALYSIS METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE AUTOMATISÉ ET PROCÉDÉ D'ANALYSE AUTOMATISÉ
(JA) 自動分析装置および自動分析方法
Abrégé
(EN) Disclosed is an automated analysis device which can reduce the effects of the scattered light of noise components other than the object to be measured, and can improve the S/N ratio properties of a light reception signal. Data is acquired at a plurality of angles by a plurality of detectors (204-206). A detected data selection unit (18a) selects a signal acquired by one of the detectors as a reference signal. An approximation to be applied is selected by an approximation selection unit (18b1) of a first selected data processing unit (18b), and the selected approximation is used to calculate an approximation by means of an approximation calculation unit (18b2). The degree of variability of the reference signal is found by a degree of variability calculation unit (18b3). The signal of a detector (205) is retained by a second selected data processing unit (18c), and is implemented by being divided by the degree of variability of the reference signal, by a data revision unit (18d). The revised signal data is used to carry out a concentration calculation by a concentration calculation processing unit (18e), and the result is outputted to a CRT or similar by a result output unit (18f).
(FR) Le dispositif d'analyse automatisé ci-décrit permet de réduire les effets de la lumière diffusée par des composants de type bruit autres que l'objet qui doit être mesuré, et peut améliorer les propriétés du rapport S/B d'un signal de réception de lumière. Les données sont acquises à une pluralité d'angles par une pluralité de détecteurs (204-206). Une unité de sélection des données détectées (18a) sélectionne un signal acquis par l'un des détecteurs à titre de signal de référence. L'approximation qui sera appliquée est sélectionnée par une unité de sélection d'approximation (18b1) d'une première unité de traitement des données sélectionnées (18b), et l'approximation sélectionnée est utilisée pour calculer une approximation à l'aide d'une unité de calcul d'approximation (18b2). Le degré de variabilité du signal de référence est déterminé par une unité de calcul du degré de variabilité (18b3). Le signal d'un détecteur (205) est conservé par une seconde unité de traitement des données sélectionnées (18c), et est implémenté après division par le degré de variabilité du signal de référence, par une unité de révision des données (18d). Les données du signal révisé sont utilisées pour effectuer le calcul d'une concentration par une unité de calcul de concentration (18e), et le résultat est affiché sur un CRT ou autre dispositif similaire par une unité de génération de résultat (18f).
(JA)  測定対象物以外のノイズ成分の散乱光の影響を低減し、受光信号のS/N比特性を改善可能な自動分析装置が実現される。複数の検出器(204~206)で複数の角度でデータを取得する。検出データ選択部(18a)により、その中の一つの検出器によって取得した信号を基準信号として選択する。第1選択データ処理部(18b)の近似式選択部(18b1)で適用する近似式を選択し、選択した近似式を用いて近似式計算部(18b2)により近似式が計算される。変動率計算部(18b3)により基準信号の変動率が求められる。検出器(205)の信号は第2選択データ処理部(18c)により保持され、データ補正部(18d)により基準信号の変動率で除されることによって行われる。補正した信号データを用いて濃度演算処理部(18e)により濃度演算が行われ、結果出力部(18f)によりCRT等に結果が出力される。
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