Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2011152285 - DISPOSITIF DE FORMATION D'IMAGE DE RÉFLEXION ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION D'IMAGE

Numéro de publication WO/2011/152285
Date de publication 08.12.2011
N° de la demande internationale PCT/JP2011/062143
Date du dépôt international 20.05.2011
CIB
G01N 21/17 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
G01N 21/27 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27en utilisant la détection photo-électrique
G01N 21/35 2014.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35en utilisant la lumière infrarouge
G01N 21/3581 2014.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35en utilisant la lumière infrarouge
3581en utilisant la lumière de l'infrarouge lointain; en utilisant un rayonnement térahertz
CPC
G01N 21/3581
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
35using infra-red light
3581using far infra-red light; using Terahertz radiation
H04N 5/33
HELECTRICITY
04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
5Details of television systems
30Transforming light or analogous information into electric information
33Transforming infra-red radiation
Déposants
  • 日本電気株式会社 NEC Corporation [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 国立大学法人京都大学 Kyoto University [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 独立行政法人情報通信研究機構 National Institute of Information and Communications Technology [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 小田 直樹 ODA, Naoki [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 小川 雄一 OGAWA, Yuichi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 寳迫 巌 HOSAKO, Iwao [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 関根 徳彦 SEKINE, Norihiko [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 小田 直樹 ODA, Naoki
  • 小川 雄一 OGAWA, Yuichi
  • 寳迫 巌 HOSAKO, Iwao
  • 関根 徳彦 SEKINE, Norihiko
Mandataires
  • 池田 憲保 IKEDA, Noriyasu
Données relatives à la priorité
2010-12841604.06.2010JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) REFLECTIVE IMAGING DEVICE AND IMAGE ACQUISITION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE FORMATION D'IMAGE DE RÉFLEXION ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION D'IMAGE
(JA) 反射型イメージング装置およびイメージ取得方法
Abrégé
(EN) In order to generate a two-dimensional image of a sample in a short time using a THz wave, disclosed is a reflective imaging device provided with a sample holder, a THz wave light source, a THz wave camera, a rotation mechanism for rotating the holder and the camera, and a processing unit. In said reflective imaging device, a sample unit is provided with an incidence member, a sample, and a reflection member, the sample is provided with a first region of only a membrane and a second region including a biological polymer, the camera detects, at each incidence angle, a THz wave, in which a component reflected at an interface between the incidence member and the sample and a component reflected at an interface between the sample and the reflection member interfere with each other, of each portion of the sample unit, and outputs a signal, and the processing unit specifies an incidence angle at which the signal of a first THz wave that causes interference in the first region is relatively small and the signal of a second THz that causes interference in the second region is relatively large, and generates a two-dimensional image of the sample on the basis of the signal from the camera at the specified incidence angle.
(FR) Pour générer une image bidimensionnelle d'un échantillon en un temps court à l'aide d'une onde THz, l'invention propose un dispositif de formation d'image de réflexion comprenant un porte-échantillon, une source lumineuse à ondes THz, une caméra à ondes THz, un mécanisme de rotation permettant de mettre en rotation le support et la caméra, et une unité de traitement. Dans ledit dispositif de formation d'image de réflexion, une unité à échantillons est munie d'un élément d'incidence, d'un échantillon et d'un élément de réflexion, l'échantillon comprenant une première région uniquement constituée d'une membrane et une seconde région comprenant un polymère biologique, la caméra détectant, pour chaque angle d'incidence, une onde THz comprenant une composante réfléchie à l'interface entre l'élément d'incidence et l'échantillon et une composante réfléchie à l'interface entre l'échantillon et l'élément de réflexion qui interfèrent l'une avec l'autre, dans chaque partie de l'unité à échantillons, et délivrant un signal, et l'unité de traitement spécifiant un angle d'incidence auquel le signal correspondant à une première onde THz qui provoque une interférence dans la première région est relativement faible et le signal correspondant à une seconde onde THz qui provoque une interférence dans la seconde région est relativement intense, et générant une image bidimensionnelle de l'échantillon sur la base du signal provenant de la caméra à l'angle d'incidence spécifié.
(JA) THz波を利用し、短時間でサンプルの2次元画像を生成する。サンプルホルダーとTHz波光源とTHz波カメラとホルダー及びカメラを回転させる回転機構と処理装置とを備える反射型イメージング装置であって、サンプルユニットは入射部材とサンプルと反射部材とを備え、サンプルはメンブレンのみの第1の領域と生体高分子を含む第2の領域とを備え、カメラは、各入射角に対して、サンプルユニットの各部の、入射部材とサンプルの界面で反射した成分とサンプルと反射部材の界面で反射した成分とが干渉したTHz波を検出して信号を出力し、処理装置は、第1の領域で干渉した第1のTHz波の信号が相対的に小さく、第2の領域で干渉した第2のTHz波の信号が相対的に大きい入射角を特定し、特定した入射角におけるカメラからの信号に基づいて、サンプルの2次元画像を生成する。
Documents de brevet associés
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international