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1. WO2011148300 - INSPECTION PAR RÉSONANCE MAGNÉTIQUE AVEC DÉTECTION D'INSTRUMENT

Numéro de publication WO/2011/148300
Date de publication 01.12.2011
N° de la demande internationale PCT/IB2011/052195
Date du dépôt international 19.05.2011
CIB
G01R 33/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
20faisant intervenir la résonance magnétique
28Détails des appareils prévus dans les groupes G01R33/44-G01R33/6498
G01R 33/561 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
20faisant intervenir la résonance magnétique
44utilisant la résonance magnétique nucléaire
48Systèmes d'imagerie RMN
54Systèmes de traitement du signal, p.ex. utilisant des séquences d'impulsions
56Amélioration ou correction de l'image, p.ex. par des techniques de soustraction ou d'établissement de moyenne
561par réduction du temps de balayage, c.à d. systèmes d'acquisition rapide, p.ex. utilisant des séquences d'impulsions écho-planar
CPC
G01R 33/285
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
285Invasive instruments, e.g. catheters or biopsy needles, specially adapted for tracking, guiding or visualization by NMR
G01R 33/288
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
288Provisions within MR facilities for enhancing safety during MR, e.g. reduction of the specific absorption rate [SAR], detection of ferromagnetic objects in the scanner room
G01R 33/3852
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
38Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
385using gradient magnetic field coils
3852Gradient amplifiers; means for controlling the application of a gradient magnetic field to the sample, e.g. a gradient signal synthesizer
G01R 33/54
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
44using nuclear magnetic resonance [NMR]
48NMR imaging systems
54Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; , Generation or control of pulse sequences
G01R 33/5613
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
44using nuclear magnetic resonance [NMR]
48NMR imaging systems
54Signal processing systems, e.g. using pulse sequences ; , Generation or control of pulse sequences
56Image enhancement or correction, e.g. subtraction or averaging techniques ; , e.g. improvement of signal-to-noise ratio and resolution
561by reduction of the scanning time, i.e. fast acquiring systems, e.g. using echo-planar pulse sequences
5613Generating steady state signals, e.g. low flip angle sequences [FLASH]
Déposants
  • KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL]/[NL] (AllExceptUS)
  • VAN DEN BRINK, Johan, Samuel [NL]/[NL] (UsOnly)
Inventeurs
  • VAN DEN BRINK, Johan, Samuel
Mandataires
  • VAN VELZEN, Maaike, M.
Données relatives à la priorité
10164115.727.05.2010EP
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) MAGNETIC RESONANCE EXAMINATION WITH INSTRUMENT DETECTION
(FR) INSPECTION PAR RÉSONANCE MAGNÉTIQUE AVEC DÉTECTION D'INSTRUMENT
Abrégé
(EN)
An magnetic resonance examination system for examination of an object comprises an RF system to generate an RF transmission field and gradient system to generate temporarymagnetic gradient fields. A controlmodule includes a sequence controller to controlthe RF system and the gradient system to produce acquisition sequences including RF pulses and magnetic gradient pulses to generate magnetic resonance signals. The sequence controller is configured to produce an detection scan including a steady state gradient echo acquisition sequence to generate steady state gradient echo signals and an RF spoiled echo acquisition sequence to produce RF spoiled echo signals. The control module further including an analysis unit to compare the gradient echo signals to the RF spoiled echo signals and for detection of an instrument in the object from the comparison of the gradient echoes and the RF spoiled echoes.
(FR)
L'invention concerne un système d'inspection par résonance magnétique servant à inspecter un objet, le système d'inspection comprenant un système RF servant à générer un champ de transmission RF et un système à gradient servant à générer des champs temporaires de gradient magnétique. Un module de commande comprend un dispositif de commande de séquence servant à commander le système RF et le système à gradient afin de produire des séquences d'acquisition comprenant des impulsions RF et des impulsions de gradient magnétique pour générer des signaux de résonance magnétique. Le dispositif de commande de séquence est conçu pour produire un balayage de détection comprenant une séquence d'acquisition d'écho de gradient en régime permanent pour générer des signaux d'écho de gradient en régime permanent et une séquence d'acquisition d'écho RF avec destruction de l'aimantation transversale résiduelle pour produire des signaux d'écho RF avec destruction de l'aimantation transversale résiduelle. Le module de commande comprend en outre une unité d'analyse pour comparer les signaux d'écho de gradient aux signaux d'écho RF avec destruction de l'aimantation transversale résiduelle et pour détecter un instrument dans l'objet à partir de la comparaison entre les échos de gradient et les échos RF avec destruction de l'aimantation transversale résiduelle.
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