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1. (WO2011130291) PROCÉDÉ ET APPAREIL DESTINÉS À DÉTERMINER DES VARIATIONS D'IMPÉDANCE À UNE INTERFACE PEAU/ÉLECTRODE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/130291    N° de la demande internationale :    PCT/US2011/032145
Date de publication : 20.10.2011 Date de dépôt international : 12.04.2011
CIB :
A61B 5/053 (2006.01), A61B 5/0402 (2006.01), A61B 5/0488 (2006.01), A61B 5/0476 (2006.01)
Déposants : REPRODUCTIVE RESEARCH TECHNOLOGIES, LP [US/US]; 1770 St. James Place Houston, TX 77056 (US) (Tous Sauf US).
BURNS, Mark [US/US]; (US) (US Seulement).
FINK, Rainer J. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BURNS, Mark; (US).
FINK, Rainer J.; (US)
Mandataire : HULSEY, P.C. INTELLECTUAL PROPERTY LAWYERS; Hulsey, P.C.- Interllectual Property Lawyers Attn: Loren T. Smith 919 Congress Ave., Ste. 919 Austin, TX 78701 (US)
Données relatives à la priorité :
12/758,552 12.04.2010 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS TO DETERMINE IMPEDANCE VARIATIONS IN A SKIN/ELECTRODE INTERFACE
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DESTINÉS À DÉTERMINER DES VARIATIONS D'IMPÉDANCE À UNE INTERFACE PEAU/ÉLECTRODE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a system for measuring the impedance of a skin/electrode interface and selectively modifying the system gain of the monitoring circuit to compensate for errors introduced by variations in the skin/electrode impedance. More particularly, a simplified, low-cost method for measuring and compensating for skin/electrode impedance variations is provided. The skin/electrode impedance measuring circuit and determines a system gain correction factor which may be applied to the measured signal using a software algorithm, thereby eliminating the need to change the circuit topology with a programmable gain amplifier or programmable resistor network.
(FR)La présente invention concerne un système de mesure de l'impédance à une interface peau/électrode et de modification sélective du gain du système du circuit de contrôle afin de compenser les erreurs introduites par des variations de l'impédance à l'interface peau/électrode. Plus particulièrement, l'invention concerne un procédé simplifié et peu coûteux de mesure et de compensation des variations de l'impédance à l'interface peau/électrode. Le circuit mesure l'impédance à l'interface peau/électrode et détermine un facteur de correction du gain du système, qui peut être appliqué au signal mesuré en utilisant un algorithme logiciel, éliminant ainsi le besoin de modifier la topologie du circuit avec un amplificateur de gain programmable ou un réseau de résistances programmable.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)