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1. (WO2011129189) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE ÉLÉMENTAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/129189    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/057319
Date de publication : 20.10.2011 Date de dépôt international : 25.03.2011
CIB :
G01N 21/31 (2006.01)
Déposants : HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP) (Tous Sauf US).
KURITA koji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SHIRASAKI Toshihiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KOSHI Hiroyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KURITA koji; (JP).
SHIRASAKI Toshihiro; (JP).
KOSHI Hiroyuki; (JP)
Mandataire : KASUGA Yuzuru; Torii-nihonbashi Bldg., 4-1, Nihonbashi-honcho 3-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-091371 12.04.2010 JP
Titre (EN) ELEMENTARY ANALYSIS DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'ANALYSE ÉLÉMENTAIRE
(JA) 元素分析装置及び方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an elementary analysis device capable of forming plasma without using a gas, being reduced in size and weight, and performing atomic absorption analysis using an electric heating method. A solution feeding portion (101) feeds a specimen from a channel (102) to an atomization portion (103), and a voltage is applied between electrodes (118). Applying the voltage to the electrodes (118) causes current and an electric field to be concentrated in the atomization portion (103), so that bubbles are generated, plasma (110) occurs in the bubbles, and elements in the specimen are atomized by the plasma (110). Light (111) from a light source (109) is irradiated from the light source (109) to and passes through the atomization portion (103), is received by, for example, an optical fiber (105), and is split into a spectrum by a spectroscope (106). The amount of the split light is detected by a detector (107) and is analyzed by a computer (108).
(FR)L'invention porte sur un dispositif d'analyse élémentaire, apte à former un plasma sans utiliser un gaz, qui a une taille et un poids réduits, et qui effectue une analyse d'absorption atomique à l'aide d'un procédé de chauffage électrique. Une partie d'introduction de solution (101) introduit un spécimen à partir d'un canal (102) à une partie d'atomisation (103), et une tension est appliquée entre des électrodes (118). L'application de la tension aux électrodes (118) provoque la concentration d'un courant et d'un champ électrique dans la partie d'atomisation (103), de telle sorte que des bulles sont générées, qu'un plasma (110) apparaît dans les bulles, et que des éléments dans le spécimen sont atomisés par le plasma (110). Une lumière (111) provenant d'une source de lumière (109) est rayonnée à partir de la source de lumière (109) vers la partie d'atomisation (103) et traverse celle-ci, et est reçue, par exemple, par une fibre optique (105), et est divisée en un spectre par un spectroscope (106). La quantité de lumière divisée est détectée par un détecteur (107) et est analysée par un ordinateur (108).
(JA)ガスを用いることなく、プラズマの形成が可能であり、小型軽量化が可能な電気加熱法による原子吸光分析が可能な元素分析装置が実現される。試料は送液部(101)により流路(102)から原子化部(103)に送液され、電極(118)間に電圧が印加される。電極(118)に電圧が印加されると、原子化部(103)で電流と電界が集中し、気泡が発生しこの気泡中にプラズマ(110)が生じ、プラズマ(110)により試料中の元素が原子化される。光源(109)から原子化部(103)に照射され透過した光源(109)からの光(111)を光ファイバー(105)などで受光し、分光器(106)で分光する。この分光された光量が検出器(107)により検出され、コンピュータ(108)で分析される。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)