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1. WO2011078930 - PROCÉDÉS ET SYSTÈMES POUR UNE ESTIMATION DE RENDEMENT À ÉCART-TYPE ÉLEVÉ

Numéro de publication WO/2011/078930
Date de publication 30.06.2011
N° de la demande internationale PCT/US2010/057609
Date du dépôt international 22.11.2010
CIB
G01R 31/26 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
H01L 21/66 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
LDISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
66Test ou mesure durant la fabrication ou le traitement
CPC
G06K 9/6226
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
KRECOGNITION OF DATA; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
9Methods or arrangements for reading or recognising printed or written characters or for recognising patterns, e.g. fingerprints
62Methods or arrangements for recognition using electronic means
6217Design or setup of recognition systems and techniques; Extraction of features in feature space; Clustering techniques; Blind source separation
6218Clustering techniques
622Non-hierarchical partitioning techniques
6226based on the modelling of probability density functions
G06K 9/6277
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
KRECOGNITION OF DATA; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
9Methods or arrangements for reading or recognising printed or written characters or for recognising patterns, e.g. fingerprints
62Methods or arrangements for recognition using electronic means
6267Classification techniques
6268relating to the classification paradigm, e.g. parametric or non-parametric approaches
6277based on a parametric (probabilistic) model, e.g. based on Neyman-Pearson lemma, likelihood ratio, Receiver Operating Characteristic [ROC] curve plotting a False Acceptance Rate [FAR] versus a False Reject Rate [FRR]
Déposants
  • CADENCE DESIGN SYSTEMS, INC. [US]/[US] (AllExceptUS)
  • TIWARY, Saurabh [IN]/[US] (UsOnly)
  • LIU, Hongzhou [CN]/[US] (UsOnly)
  • ZHANG, Hui [CN]/[US] (UsOnly)
Inventeurs
  • TIWARY, Saurabh
  • LIU, Hongzhou
  • ZHANG, Hui
Mandataires
  • KAO, Dah-Bin
Données relatives à la priorité
12/646,62323.12.2009US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHODS AND SYSTEMS FOR HIGH SIGMA YIELD ESTIMATION
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES POUR UNE ESTIMATION DE RENDEMENT À ÉCART-TYPE ÉLEVÉ
Abrégé
(EN)
For an integrated circuit associated with a plurality of parameters whose values are described by a first probability distribution function, a method for estimating a failure probability includes selecting a first plurality of samples, performing a first test to determine an outcome for each of the first plurality of samples and identifying failed samples, and clustering the failed samples using a computer-implemented cluster forming method that, in some cases, returns multiple clusters. The method also includes forming a probability distribution function for each of the clusters, forming a composite probability distribution function that includes a weighted combination of the first probability distribution function and the probability distribution function for each of the clusters. The method further includes selecting a second plurality of samples using the composite probability distribution function and performing a second test to determine an outcome for each of the second plurality of samples.
(FR)
Pour un circuit intégré associé à une pluralité de paramètres dont les valeurs sont décrites par une première fonction de distribution de probabilités, un procédé de l'invention permettant d'estimer une probabilité de défaillance consiste à sélectionner une première pluralité d'échantillons, à réaliser un premier test afin de déterminer un résultat pour chaque échantillon de la première pluralité d'échantillons et à identifier les échantillons défaillants, et à regrouper les échantillons défaillants à l'aide d'un procédé de formation de groupes mis en œuvre par ordinateur qui, dans certains cas, donne plusieurs groupes. Le procédé consiste également à former une fonction de distribution de probabilités pour chacun des groupes, à former une fonction de distribution de probabilités composite qui comprend une combinaison pondérée de la première fonction de distribution de probabilités et de la fonction de distribution de probabilités pour chacun des groupes. Le procédé consiste en outre à sélectionner une seconde pluralité d'échantillons à l'aide de la fonction de distribution de probabilités composite et à réaliser un second test afin de déterminer un résultat pour chaque échantillon de la seconde pluralité d'échantillons.
Également publié en tant que
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