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1. WO2011061796 - APPAREIL DE RÉCEPTION, APPAREIL DE TEST, PROCÉDÉ DE RÉCEPTION ET PROCÉDÉ DE TEST

Numéro de publication WO/2011/061796
Date de publication 26.05.2011
N° de la demande internationale PCT/JP2009/006203
Date du dépôt international 18.11.2009
CIB
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
G01R 31/28 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G11C 29/56 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
29Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
56Équipements externes pour test de mémoires statiques, p.ex. équipement de test automatique ; Interfaces correspondantes
CPC
G01R 31/31922
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
31922Timing generation or clock distribution
G01R 31/31937
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
3193with comparison between actual response and known fault free response
31937Timing aspects, e.g. measuring propagation delay
G11C 29/56
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
G11C 29/56012
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
56012Timing aspects, clock generation, synchronisation
Déposants
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 寒竹 秀介 KANTAKE, Shusuke [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 松村 英宜 MATSUMURA, Hidenobu [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 寒竹 秀介 KANTAKE, Shusuke
  • 松村 英宜 MATSUMURA, Hidenobu
Mandataires
  • 龍華国際特許業務法人 RYUKA IP Law Firm
Données relatives à la priorité
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) RECEIVING APPARATUS, TESTING APPARATUS, RECEIVING METHOD AND TESTING METHOD
(FR) APPAREIL DE RÉCEPTION, APPAREIL DE TEST, PROCÉDÉ DE RÉCEPTION ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 受信装置、試験装置、受信方法、および試験方法
Abrégé
(EN)
Provided are a receiving method and a receiving apparatus that comprises: a multi-strobe generating unit that generates a multi-strobe including a plurality of strobes having different phases relative to a received signal; an acquiring unit that acquires the received signal from each of the plurality of strobes; a detecting unit that detects, from an acquisition result of the acquiring unit, a change position at which the value of the received signal has changed; and a selecting unit that selects, as a received data value, the value of the received signal acquired from the strobe the position of which deviates in phase by a predetermined amount from the change position. The receiving apparatus may further comprise a reference clock generating unit that generates a reference clock having a predetermined period, and the multi-strobe generating unit may generate a multi-strobe for each of the pulses of the reference clock.
(FR)
L'invention concerne un procédé de réception et un appareil de réception qui comprend : une unité générant une impulsion d'échantillonnage multiple qui génère une impulsion d'échantillonnage multiple comportant une pluralité d'impulsions d'échantillonnage ayant des phases différentes par rapport à un signal reçu; une unité d'acquisition qui acquiert le signal reçu provenant de chacune des impulsions d'échantillonnage; une unité de détection qui détecte, à partir d'un résultat d'acquisition de l'unité acquisition, une position modifiée où la valeur du signal reçu a changé; et une unité de sélection qui sélectionne, en tant que valeur de donnée reçue, la valeur du signal reçu acquis à partir de l'impulsion d'échantillonnage dont la position s'écarte de la phase d'une quantité prédéterminée par rapport à la position modifiée. L'appareil de réception peut comprendre en outre une unité générant un temps de référence qui génère un temps de référence ayant une période prédéterminée, et l'unité générant une impulsion d'échantillonnage multiple peut générer une impulsion d'échantillonnage multiple pour chacune des impulsions du temps de référence.
(JA)
 受信信号に対して互いに位相が異なる複数のストローブを含むマルチストローブを発生するマルチストローブ発生部と、複数のストローブのそれぞれにより受信信号を取得する取得部と、取得部の取得結果から、受信信号の値が変化した変化位置を検出する検出部と、変化位置に対して予め定められた位相分ずれた位置のストローブにより取得した受信信号の値を、受信データ値として選択する選択部と、を備える受信装置および受信方法を提供する。また、予め設定された周期の基準クロックを発生する基準クロック発生部を更に備え、マルチストローブ発生部は、基準クロックのパルス毎に、マルチストローブを発生してもよい。
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