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1. WO2011052448 - DISPOSITIF D'ÉCLAIRAGE ET SYSTÈME D'ÉCLAIRAGE

Numéro de publication WO/2011/052448
Date de publication 05.05.2011
N° de la demande internationale PCT/JP2010/068479
Date du dépôt international 20.10.2010
CIB
G01N 21/84 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
CPC
G01N 2021/95638
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
956Inspecting patterns on the surface of objects
95638for PCB's
G01N 21/8806
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
8806Specially adapted optical and illumination features
G01N 21/956
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
95characterised by the material or shape of the object to be examined
956Inspecting patterns on the surface of objects
Déposants
  • エイチエスティ・ビジョン株式会社 HST Vision Corporation [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 樋口 仁弘 HIGUCHI, Yoshihiro [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 樋口 仁弘 HIGUCHI, Yoshihiro
Mandataires
  • 北村 周彦 KITAMURA, Chikahiko
Données relatives à la priorité
2009-24846529.10.2009JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) ILLUMINATING DEVICE, AND ILLUMINATING SYSTEM
(FR) DISPOSITIF D'ÉCLAIRAGE ET SYSTÈME D'ÉCLAIRAGE
(JA) 照明装置および照明システム
Abrégé
(EN)
LEDs (21, 22, 23) are arranged on a substrate provided on a illuminating device (14), wherein the orientation of the LEDs (21, 22, 23) are set such that the angle (α) formed from the X axis and the orthogonal projection onto the X-Y plane of the light emitting main axes (L1, L2, L3) of the LEDs (21, 22, 23) is between 15 and 75 degrees, inclusive, and the angle (β) formed from the Y axis and the orthogonal projection onto the Y-Z plane of the light emitting main axes (L1, L2, L3) is between 0 and 75 degrees, inclusive.
(FR)
Des DEL (21, 22, 23) sont agencées sur un substrat monté sur un dispositif d'éclairage (14), les DEL (21, 22, 23) étant orientées de manière à ce que l'angle (α) formé par l'axe X et la projection orthogonale sur le plan X-Y des axes principaux d'émission de lumière (L1, L2, L3) des DEL (21, 22, 23) soit compris entre 15 et 75 degrés, limites comprises, et à ce que l'angle (β) formé par l'axe Y et la projection orthogonale sur le plan Y-Z des axes principaux d'émission de lumière (L1, L2, L3) soit compris entre 0 et 75 degrés, limites comprises.
(JA)
 照明装置14に設けられた基板上には、LED21、22、23が並べて配置され、これらLED21、22、23の発光主軸L1、L2、L3のXY平面への正射影とX軸とのなす角の大きさαが15度以上75度以下であり、かつ発光主軸L1、L2、L3のYZ平面への正射影とY軸とのなす角の大きさβが0度以上75度以下であるようにLED21、22、23の向きが定められている。
Également publié en tant que
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