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1. WO2010022670 - DISPOSITIF DE MESURE D’UNE SURFACE INCURVÉE ET SON PROCÉDÉ DE MESURE

Numéro de publication WO/2010/022670
Date de publication 04.03.2010
N° de la demande internationale PCT/CN2009/073602
Date du dépôt international 28.08.2009
CIB
G01B 11/24 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
CPC
G01B 11/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
Déposants
  • 翟泳通 CHAK, Wingtung [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 翟泳通 CHAK, Wingtung
Mandataires
  • 广州三环专利代理有限公司 SCIHEAD PATENT AGENT CO., LTD
Données relatives à la priorité
200810198158.929.08.2008CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) CURVED SURFACE MEASURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF
(FR) DISPOSITIF DE MESURE D’UNE SURFACE INCURVÉE ET SON PROCÉDÉ DE MESURE
(ZH) 曲面测量装置和测量方法
Abrégé
(EN)
A curved surface measuring device and a measuring method thereof. The measuring device comprises a dragline (1) and a camera device (3), wherein the dragline (1) is tightly stretched on the surface of an object (2) to be measured and coincides with the profile curve of the object (2) to be measured; the measuring method includes the following steps: step one, a parameter set of the measuring device is determined; step two, the dragline (1) is tightly stretched on the surface of the object (2) to be measured; step three, a picture of the dragline (1) is taken and the image is input into a computer; step four, the image of the dragline (1) is analyzed and curvilinear coordinate data of the centerline of the dragline (1) are calculated; and step five, the centerline of the dragline (1) is processed by equidistant offset calculation towards one side of the object (2) to be measured while the offset amount is equal to the semidiameter of the dragline (1) and then a curve is obtained, namely the profile curve of the corresponding position of the object (2) to be measured. By utilizing a certain amount of the draglines (1), the curved surface data of the object (2) to be measured is obtained.
(FR)
La présente invention concerne un dispositif de mesure d’une surface incurvée et son procédé de mesure. Le dispositif de mesure comprend un câble porteur (1) et un dispositif à caméra (3), le câble porteur (1) étant étroitement étiré sur la surface d’un objet (2) devant être mesuré et coïncidant avec la courbe du profil de l’objet (2) devant être mesuré. Le procédé de mesure comprend les étapes suivantes : étape un, un ensemble de paramètres du dispositif de mesure est déterminé; étape deux, le câble porteur (1) est étroitement étiré sur la surface de l’objet (2) devant être mesuré; étape trois, une image du câble porteur (1) est prise et l’image est entrée dans un ordinateur; étape quatre, l’image du câble porteur (1) est analysée et des données de coordonnées curvilignes de la ligne centrale du câble porteur (1) sont calculées; et étape cinq, la ligne centrale du câble porteur (1) est traitée par un calcul de décalage équidistant vers un côté de l’objet (2) devant être mesuré pendant que la quantité du décalage est égale au demi-diamètre du câble porteur (1), puis une courbe est obtenue, à savoir, la courbe du profil de la position correspondante de l’objet (2) devant être mesuré. Par l’utilisation d’une certaine quantité des câbles porteurs (1), les données de surface incurvée de l’objet (2) devant être mesuré sont obtenues.
Également publié en tant que
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