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1. (WO2010000265) SONDE MULTIPOINTS POUR TESTER DES PROPRIÉTÉS ÉLECTRIQUES ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION D’UNE SONDE MULTIPOINTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/000265    N° de la demande internationale :    PCT/DK2009/000161
Date de publication : 07.01.2010 Date de dépôt international : 30.06.2009
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), G01R 27/14 (2006.01)
Déposants : CAPRES A/S [DK/DK]; DTU Bygn.373 DK-2800 Lyngby (DK) (Tous Sauf US).
PETERSEN, Dirch [DK/DK]; (DK) (US Seulement)
Inventeurs : PETERSEN, Dirch; (DK)
Mandataire : NIELSEN, Henrik Sten; BUDDE, SCHOU & OSTENFELD A/S Vester Søgade 10 DK-1601 Copenhagen V (DK)
Données relatives à la priorité :
083888023.7 30.06.2008 EP
Titre (EN) A MULTI-POINT PROBE FOR TESTING ELECTRICAL PROPERTIES AND A METHOD OF PRODUCING A MULTI-POINT PROBE
(FR) SONDE MULTIPOINTS POUR TESTER DES PROPRIÉTÉS ÉLECTRIQUES ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION D’UNE SONDE MULTIPOINTS
Abrégé : front page image
(EN)A multi-point probe for testing electrical properties of a number of specific locations of a test sample comprises a supporting body defining a first surface, a first multitude of conductive probe arms (101-101' ' ' ), each of the probe arms defining a proximal end and a distal end. The probe arms are connected to the supporting body (105) at the proximal ends, and the distal ends are freely extending from the supporting body, giving individually flexible motion to the probe arms. Each of the probe arms defines a maximum width perpendicular to its perpendicular bisector and parallel with its line of contact with the supporting body, and a maximum thickness perpendicular to its perpendicular bisector and its line of contact with the supporting body. Each of the probe arms has a specific area or point of contact (111-111' ' ') at its distal end for contacting a specific location among the number of specific locations of the test sample. At least one of the probe arms has an extension defining a pointing distal end providing its specific area or point of contact located offset relative to its perpendicular bisector.
(FR)Une sonde multipoints pour tester des propriétés électriques d'un nombre d'emplacements spécifiques d'un échantillon d'essai comprend un corps de support définissant une première surface, une première multitude de bras de sonde conducteurs (101-101’), chacun des bras de sonde définissant une extrémité proximale et une extrémité distale. Les bras de sonde sont raccordés au corps de support (105) au niveau des extrémités proximales, et les extrémités distales s'étendent librement depuis le corps de support, donnant un mouvement individuellement flexible au bras de sonde. Chacun des bras de sonde définit une largeur maximale perpendiculaire à sa bissectrice perpendiculaire et parallèle à sa ligne de contact avec le corps de support, et une épaisseur maximale perpendiculaire à sa bissectrice perpendiculaire et sa ligne de contact avec le corps de support. Chacun des bras de sonde a une surface spécifique ou un point de contact spécifique (111-111’) à son extrémité distale pour venir en contact avec un emplacement spécifique parmi le nombre d’emplacements spécifiques de l’échantillon d’essai. Au moins l’un des bras de sonde a une extension définissant une extrémité distale de pointage fournissant son aire spécifique ou son point de contact décalé par rapport à sa bissectrice perpendiculaire.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)