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1. (WO2009108432) MODÈLE PHYSIQUE DE ROCHE PERMETTANT DE SIMULER UNE RÉPONSE SISMIQUE DANS DES ROCHES FRACTURÉES STRATIFIÉES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2009/108432    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/032007
Date de publication : 03.09.2009 Date de dépôt international : 26.01.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    29.06.2009    
CIB :
G06F 7/60 (2006.01)
Déposants : EXXONMOBIL UPSTREAM RESEARCH COMPANY [US/US]; CORP-URC-SW-359, P.O. Box 2189, Houston, TX 77252-2189 (US) (Tous Sauf US).
XU, Shiyu [CN/US]; (US) (US Seulement).
CHEN, Ganglin [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : XU, Shiyu; (US).
CHEN, Ganglin; (US)
Mandataire : PLUMMER, J., Paul; Exxonmobil Upstream Research Company, CROP-URC-SW-359, P.O. Box 2189, Houston, TX 77252-2189 (US)
Données relatives à la priorité :
61/067,534 28.02.2008 US
Titre (EN) ROCK PHYSICS MODEL FOR SIMULATING SEISMIC RESPONSE IN LAYERED FRACTURED ROCKS
(FR) MODÈLE PHYSIQUE DE ROCHE PERMETTANT DE SIMULER UNE RÉPONSE SISMIQUE DANS DES ROCHES FRACTURÉES STRATIFIÉES
Abrégé : front page image
(EN)Method for modeling anisotropic elastic properties of a subsurface region comprising mixed fractured rocks and other geological bodies. P-wave and fast and slow S-wave logs are obtained, and an anisotropic rock physics model of the subsurface region is developed (21). P- and fast and slow S-wave logs at the well direction are calculated using a rock physics model capable of handling fractures and other geological factors (22). Calculated values are compared to measured values in an iterative model updating process (23). An upscaled ID model is developed by averaging elastic properties in each layer using an upscaling theory capable of handling at least orthorhombic anisotropy (24). The ID model may be used to generate synthetic seismic response for well ties or AVO modeling (25). Further, a method is disclosed for estimating anisotropy parameters from P- and fast/slow S-wave logs from one or more deviated wells.
(FR)La présente invention concerne un procédé de modélisation de propriétés élastiques anisotropes d’une région de sous-surface comprenant des roches fracturées mélangées et d’autres corps géologiques. Des diagraphies d’onde P et d’onde S rapides et lentes sont obtenues et un modèle physique de roche anisotrope de la région de sous-surface est développé (21). Des diagraphies d’onde P et d’onde S rapides et lentes en direction du puits sont calculées à l’aide d’un modèle physique de roche apte à traiter des fractures et autres facteurs géologiques (22). Des valeurs calculées sont comparées à des valeurs mesurées dans un procédé de mise à jour de modèle itératif (23). Un modèle ID étendu est développé en pondérant des propriétés élastiques dans chaque couche à l’aide d’une théorie d’interpolation apte à gérer au moins une anisotropie orthorhombique (24). Le modèle ID peut être utilisé pour générer une réponse sismique synthétique pour des liens de puits ou une modélisation AVO (25). De plus, la présente invention concerne un procédé permettant d’estimer des paramètres d’anisotropie des diagraphies d’onde P et d’onde S rapides et lentes en provenance d’un ou de plusieurs puits déviés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)