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1. WO2009063322 - SPECTROMÈTRE À GRAND PARCOURS

Numéro de publication WO/2009/063322
Date de publication 22.05.2009
N° de la demande internationale PCT/IB2008/003743
Date du dépôt international 15.08.2008
CIB
G01N 15/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
02Recherche de la dimension ou de la distribution des dimensions des particules
CPC
G01N 15/0205
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
15Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
02Investigating particle size or size distribution
0205by optical means, e.g. by light scattering, diffraction, holography or imaging
G01N 2021/4707
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
4704Angular selective
4707Forward scatter; Low angle scatter
G01N 2021/4709
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
4704Angular selective
4709Backscatter
G01N 2021/4711
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
4704Angular selective
4711Multiangle measurement
G01N 21/51
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
49within a body or fluid
51inside a container, e.g. in an ampoule
G02B 27/0966
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
27Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
0938Using specific optical elements
095Refractive optical elements
0955Lenses
0966Cylindrical lenses
Déposants
  • MALVERN INSTRUMENTS LTD (AllExceptUS)
  • JONES, Lewis [GB]/[GB] (UsOnly)
  • LIGHTFOOT, Nigel [GB]/[GB] (UsOnly)
  • SPRIGGS, David [GB]/[GB] (UsOnly)
  • STRINGFELLOW, David [GB]/[GB] (UsOnly)
Inventeurs
  • JONES, Lewis
  • LIGHTFOOT, Nigel
  • SPRIGGS, David
  • STRINGFELLOW, David
Mandataires
  • BARKER BRETTELL LLP
Données relatives à la priorité
60/964,82815.08.2007US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) BROAD-RANGE SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE À GRAND PARCOURS
Abrégé
(EN)
In one general aspect, a particle characterization instrument is disclosed that includes a first spatially coherent light source with a beam output aligned with an optical axis. A focusing optic is positioned along the optical axis after the coherent light source, and a sample cell is positioned along the optical axis after the focusing optic. The instrument also includes a diverging optic positioned along the optical axis after the sample cell, and a detector positioned outside of the optical axis to receive scattered light within a first range of scattering angles from the diverging optic. In another general aspect, an instrument can direct at least a portion of a first beam and at least a portion of a second beam along a same optical axis and a can receive scattered light from the sample cell resulting from interaction between the sample and either the first beam or the second beam.
(FR)
Dans un aspect général, l'invention porte sur un instrument de caractérisation de particules incluant une première source lumineuse spatialement cohérente délivrant un faisceau aligné avec un axe optique. Une optique focalisatrice est positionnée le long de l'axe optique après la source lumineuse cohérente, et une cellule à échantillon est placée le long de l'axe optique après l'optique focalisatrice. L'instrument inclut également une optique divergente située le long de l'axe optique après la cellule à échantillon, et un détecteur situé à l'extérieur de l'axe optique et destiné à recevoir la lumière diffusée dans une première plage d'angles de diffusion de l'optique divergente. Dans un autre aspect général, un instrument peut diriger au moins une partie d'un premier faisceau et au moins une partie d'un second faisceau le long d'un même axe optique, et peut recevoir la lumière diffusée provenant d'une cellule à échantillon et résultant de l'interaction entre l'échantillon et l'un des deux faisceaux, le premier ou le second.
Également publié en tant que
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