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1. (WO2008126536) DISPOSITIF DE CAPTURE OPTIQUE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/126536    N° de la demande internationale :    PCT/JP2008/054173
Date de publication : 23.10.2008 Date de dépôt international : 07.03.2008
CIB :
G11B 7/22 (2006.01), G11B 7/08 (2006.01), G11B 7/125 (2006.01), G11B 7/135 (2006.01)
Déposants : Konica Minolta Opto, Inc. [JP/JP]; 2970, Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928505 (JP) (Tous Sauf US).
NOMURA, Eiji [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NOMURA, Eiji; (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-069841 19.03.2007 JP
Titre (EN) METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL PICKUP DEVICE, AND OPTICAL PICKUP DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE CAPTURE OPTIQUE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 光ピックアップ装置の製造方法及び光ピックアップ装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a method for manufacturing an optical pickup device, which has an aberration correcting means that performs highly accurate and high-speed aberration correction and suitably records and/or reproduces information. Such optical pickup device is also provided. A reference table (B) of a drive unit (CU) is provided with reference surfaces (P1, P2) parallel to guide shafts (GS, DS) which guide an optical element holder (LHD2) in an optical axis direction. The reference table arranges the optical element (L3) on the optical element holder (LHD2) so that a center mark (CM) put on the optical surface of the optical element (L3) is in aprescribed relationship with the reference surfaces (P1, P2) of the reference table (B). The reference surfaces (P1, P2) of the reference table (B) of the drive unit (CU) whereupon the optical element (L3) is arranged are fixed by having them abut to the reference surface of the optical pickup device. Thus, the optical axis of the light source and the optical axis of the optical element (L3) are easily accorded with each other.
(FR)L'invention concerne le procédé de fabrication d'un dispositif de capture optique, avec des moyens de correction d'aberration qui réalisent une correction d'aberration très précise et très rapide et qui enregistrent et/ou reproduisent convenablement des informations. L'invention concerne également un dispositif de capture optique obtenu grâce à ce procédé. La table de référence (B) d'une unité d'entraînement (CU) possède des surfaces de référence (P1, P2) parallèles à des tiges de guidage (GS, DS) qui guident un support d'élément optique (LHD2) dans la direction de l'axe optique. La table de référence place l'élément optique (L3) sur le support d'élément optique (LHD2) de manière à ce qu'une marque centrale (CM) qui se trouve sur la surface optique de l'élément optique (L3) ait une relation non imposée avec les surfaces de référence (P1, P2) de la table de référence (B). Les surfaces de référence (P1, P2) appartenant à la table de référence (B) de l'unité d'entraînement (CU) sur laquelle l'élément optique (L3) est placé sont fixes lorsqu'elles sont contiguës à la surface de référence du dispositif de capture optique. Par conséquent, l'axe optique de la source de lumière et celui de l'élément optique (L3) sont facilement accordés.
(JA) 本発明は、高精度かつ高速に収差補正が可能な収差補正手段を備え、適切に情報の記録及び/又は再生を行える光ピックアップ装置の製造方法及び光ピックアップ装置を提供する。 駆動ユニットCUの基準台Bは、光学素子ホルダLHD2を光軸方向に案内するガイド軸GS,DSに平行な基準面P1,P2を有し、光学素子L3の光学面に付与されたセンターマークCMが、前記基準台Bの前記基準面P1,P2に対して所定の関係となるように、前記光学素子ホルダLHD2に前記光学素子L3を配置し、前記光学素子L3が配置された前記駆動ユニットCUの前記基準台Bの前記基準面P1,P2を、光ピックアップ装置の基準面に当接させて固定する。これにより、容易に、光源の光軸と光学素子L3の光軸とを一致させることが可能となる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)