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1. (WO2008016179) SYSTÈME DE DÉTERMINATION DE RÉSISTANCE D'ISOLEMENT, APPAREIL DE DÉTERMINATION DE RÉSISTANCE D'ISOLEMENT ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE RÉSISTANCE D'ISOLEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/016179    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/065565
Date de publication : 07.02.2008 Date de dépôt international : 02.08.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    23.05.2008    
CIB :
G01R 27/02 (2006.01), B60L 3/00 (2006.01), G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi 4718571 (JP) (Tous Sauf US).
TACHIZAKI, Shinsuke [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TACHIZAKI, Shinsuke; (JP)
Mandataire : YOSHIDA, Kenji; 34-12, Kichijoji-honcho 1-chome Musashino-shi, Tokyo 180-0004 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-212787 04.08.2006 JP
Titre (EN) INSULATION RESISTANCE DETERMINING SYSTEM, INSULATION RESISTANCE DETERMINING APPARATUS AND INSULATION RESISTANCE DETERMINING METHOD
(FR) SYSTÈME DE DÉTERMINATION DE RÉSISTANCE D'ISOLEMENT, APPAREIL DE DÉTERMINATION DE RÉSISTANCE D'ISOLEMENT ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE RÉSISTANCE D'ISOLEMENT
(JA) 絶縁抵抗検出システム、絶縁抵抗検出装置及び絶縁抵抗検出方法
Abrégé : front page image
(EN)An insulation resistance determining system (50) comprises an insulation resistance determining part configured by connecting a coupling capacitor (52), a detection resistor (54) and a pulse oscillating circuit (56) in series with a common mode potential measuring point (30); and an insulation resistance judging part having a filter (58), which processes an AC signal (vx) at a junction between the coupling capacitor (52) and the detection resistor (54), an amplifier (60), a wave-height value determining circuit (62) and a control part (70). The control part (70) has functions to detect an insulation resistance reduction in response to an output of the wave-height value determining circuit (62); to request an HVCPU (40) to vary the common mode potential so as to determine a failure of the insulation resistance determining part; and to determine a failure of the insulation resistance judging part from an output change of the wave-height value determining circuit (62) between before and after the common mode potential variation.
(FR)L'invention concerne un système (50) de détermination de résistance d'isolement, comprenant un module de détermination de résistance d'isolement formé en reliant un condensateur de couplage (52), une résistance de détection (54) et un circuit oscillant à impulsions (56) montés en série à un point de mesure (30) de tension de mode commun ; et un module d'évaluation de résistance d'isolement comportant un filtre (58) destiné à traiter un signal de courant alternatif (vx) au niveau d'une jonction entre le condensateur de couplage (52) et la résistance de détection (54), un amplificateur (60), un circuit (62) de détermination d'amplitude d'onde et un module de commande (70). Le module de commande (70) a pour fonctions de détecter une réduction de résistance d'isolement en réponse à une sortie du circuit (62) de détermination d'amplitude d'onde ; de solliciter d'une HVCPU (40) une variation de la tension de mode commun dans le but d'identifier une défaillance du module d'évaluation de résistance d'isolement ; et d'identifier une défaillance du module d'évaluation de résistance d'isolement en fonction d'une variation de la sortie du circuit (62) de détermination d'amplitude d'onde dans l'intervalle de variation de la tension de mode commun.
(JA) 絶縁抵抗検出システム(50)は、カップリングコンデンサ(52)と検出抵抗(54)とパルス発振回路(56)とを直列にコモンモード電位の測定点(30)に接続して構成される絶縁抵抗検出部の部分と、カップリングコンデンサ(52)と検出抵抗(54)との接続点の交流信号vを処理するフィルタ(58)、増幅器(60)、波高値検出回路(62)、制御部(70)を有する絶縁抵抗判断部の部分とを含む。制御部(70)は、波高値検出回路(62)の出力に応じて絶縁抵抗低下を検出し、絶縁抵抗検出部の故障を判定するためにHVCPU(40)に対しコモンモード電位の変動を要求し、コモンモード電位変動の前後の波高値検出回路(62)の出力変化から絶縁抵抗判断部の故障を判定する機能を有する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)