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1. WO2008006470 - INTERFÉROMÈTRE AUX RAYONS X POUR IMAGERIE À CONTRASTE DE PHASE

Numéro de publication WO/2008/006470
Date de publication 17.01.2008
N° de la demande internationale PCT/EP2007/005728
Date du dépôt international 28.06.2007
CIB
G01N 23/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
CPC
A61B 6/4291
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
6Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
42with arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
4291the detector being combined with a grid or grating
A61B 6/484
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
6Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
48Diagnostic techniques
484involving phase contrast X-ray imaging
G01N 2223/064
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
05by diffraction, scatter or reflection
064interference of radiation, e.g. Borrmann effect
G01N 2223/1016
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
10Different kinds of radiation or particles
101electromagnetic radiation
1016X-ray
G01N 2223/6123
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
60Specific applications or type of materials
612biological material
6123bone mineral
G01N 23/041
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
02by transmitting the radiation through the material
04and forming images of the material
041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
Déposants
  • PAUL SCHERRER INSTITUT [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • DAVID, Christian [DE]/[DE] (UsOnly)
  • PFEIFFER, Franz [DE]/[CH] (UsOnly)
Inventeurs
  • DAVID, Christian
  • PFEIFFER, Franz
Mandataires
  • FISCHER, Michael
Données relatives à la priorité
06014449.012.07.2006EP
06019022.012.09.2006EP
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) X-RAY INTERFEROMETER FOR PHASE CONTRAST IMAGING
(FR) INTERFÉROMÈTRE AUX RAYONS X POUR IMAGERIE À CONTRASTE DE PHASE
Abrégé
(EN)
The present invention relates to an interferometer for x-rays, in particular hard x-rays, for obtaining quantitative x-ray images from an object, comprising: a) an x-ray source, preferably a standard polly chromatic x-ray source, b) a diffractive beam splitter grating other than a Bragg crystal, preferably in transmission geometry, c) a position-sensitive detector with spatially modulated detection sensitivity having a number of individual pixels; d) means for recording the images of the detector in a phase- stepping approach; and e) means for evaluating the intensities for each pixel in a series of images in order to identify the characteristic of the object for each individual pixel as an absorption dominated pixel and/or an differential phase contrast dominated pixel and/or an x-ray scattering dominated pixel.
(FR)
Interféromètre aux rayons x, en particulier rayons X durs, donnant des images aux rayons X quantitatives d'un objet, qui comprend: a) source de rayons X, de préférence polychromatique, b) réseau diviseur de faisceau en diffraction autre que cristal de Bragg, de préférence en géométrie de transmission, c) détecteur sensible à la position à sensibilité de détection à modulation spatiale ayant un nombre de pixels individuels; d) enregistreur des images du détecteur en mode à échelonnement de phase; et e) évaluateur d'intensité pour chaque pixel dans une série d'images pour identifier la caractéristique de l'objet pour chaque pixel individuel en tant que pixel à dominante d'absorption et/ou pixel à dominante de contraste de phase différentiel et/ou pixel à dominante de diffusion des rayons X.
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international