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1. WO2008005079 - PROCÉDÉ PERMETTANT À UN CLIENT D'ACCROÎTRE LES PERFORMANCES D'UN CIRCUIT INTÉGRÉ

Numéro de publication WO/2008/005079
Date de publication 10.01.2008
N° de la demande internationale PCT/US2007/007548
Date du dépôt international 29.03.2007
CIB
G01R 31/26 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26Test de dispositifs individuels à semi-conducteurs
H01L 21/66 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
LDISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
66Test ou mesure durant la fabrication ou le traitement
CPC
G06Q 30/0603
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
QDATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
30Commerce, e.g. shopping or e-commerce
06Buying, selling or leasing transactions
0601Electronic shopping
0603Catalogue ordering
Déposants
  • ADVANCED MICRO DEVICES, INC. [US]/[US] (AllExceptUS)
  • EDWARDS, William, T. [US]/[US] (UsOnly)
  • SARTAIN, Daryl, G. [US]/[US] (UsOnly)
Inventeurs
  • EDWARDS, William, T.
  • SARTAIN, Daryl, G.
Mandataires
  • DRAKE, Paul, S.
Données relatives à la priorité
11/478,89630.06.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD OF PROVIDING A CUSTOMER WITH INCREASED INTEGRATED CIRCUIT PERFORMANCE
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT À UN CLIENT D'ACCROÎTRE LES PERFORMANCES D'UN CIRCUIT INTÉGRÉ
Abrégé
(EN)
A method for providing an integrated circuit with an option of increasing performance after fabrication is disclosed. The method includes performing a performance increase operation which increases the performance of the integrated circuit from a first performance level to a second performance level after the integrated circuit is fabricated.
(FR)
Procédé consistant à doter un circuit intégré d'une option permettant d'en accroître les performances après sa fabrication. Le procédé comprend l'étape consistant à réaliser une opération visant à accroître les performances du circuit intégré en les portant d'un premier niveau de performances à un deuxième niveau de performances après sa fabrication.
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